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公开(公告)号：CN107527650A
公开(公告)日：2017-12-29
申请号：CN201710303471.3
申请日：2017-05-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C11/4091
Abstract: 提供了校准端接电阻的半导体存储器装置及其端接电阻的校准方法。存储器装置包括第一片内端接电路、第二片内端接电路、电压发生器和代码生成器。第一片内端接电路可以对应于数据输入缓冲器。第二片内端接电路可以对应于命令/地址缓冲器。电压发生器可以产生参考电压。代码生成器可以响应于参考电压产生片内端接电路中所选择的一个片内端接电路的电阻校准代码。电阻校准代码可以校准所选择的片内端接电路的电阻值。
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