包括多重误差检验与校正电路的半导体存储器

    公开(公告)号:CN1083962A

    公开(公告)日:1994-03-16

    申请号:CN93109191.8

    申请日:1993-07-30

    Inventor: 赵星熙 李炯坤

    CPC classification number: G06F11/1008 G06F11/1076

    Abstract: 半导体存储器,包括:分成许多副单元组的存储单元组,各副单元组既有正常存储单元又有奇偶校验单元;许多读出放大器组,各接到副单元组中的各单元,用于对来自副单元组的单元数据执行读出操作;许多误差检验与校正电路,各接到各读出放大器组,以修正单元数据中的出错位;以及,各连接到误差检验与校正电路的输出译码器;当该存储器在正常方式下工作,就选择副单元组之一,当其按页式工作时,则选择全部副单元组。

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