公开(公告)号：CN102713577A

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN201180006934.0

申请日：2011-01-13

Applicant: 三井造船株式会社

Inventor： 星岛一辉

IPC: G01N21/64 ,  G01N15/14

CPC classification number: G01N21/6408 ,  G01N15/1459 ,  G01N2015/0038

Abstract: 本发明提供一种荧光检测装置以及荧光检测方法，所述荧光检测装置能够判断因装置的调整引起的荧光寿命测量精度的降低，该荧光检测装置对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量，其特征在于，包括：激光光源，将进行强度调制的激光照射到测量对象物上；受光部，接收所述测量对象物受激光照射时的荧光；信号处理部，利用受光部接收到的荧光的信号来求荧光寿命；判断部，判断因受光部或信号处理部放大荧光的信号而导致的所述荧光寿命的偏差值是否比规定值大。

公开(公告)号：CN102713575A

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN201180005789.4

申请日：2011-01-13

Applicant: 三井造船株式会社

Inventor： 星岛一辉 ,  中田成幸

IPC: G01N21/64 ,  G01N15/14

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01N15/1429 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/53 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/6491

Abstract: 本发明涉及一种荧光检测装置和荧光检测方法。荧光检测装置能够提高测量对象物受激光照射时发出的荧光的测量精度。该荧光检测装置对测量对象物受激光照射时发出的荧光进行测量，包括：激光光源，向测量对象物照射激光；第一受光部，接收测量对象物受激光照射时的散射光；第二受光部，接收测量对象物受激光照射时的荧光；信号处理部，对应第一受光部所接收的所述散射光强度，对第二受光部所接收的所述荧光信号进行加权平均。

公开(公告)号：CN102713574A

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN201180005407.8

申请日：2011-01-05

Applicant: 三井造船株式会社

Inventor： 林弘能 ,  中田成幸 ,  星岛一辉 ,  土井恭二

IPC: G01N21/64 ,  G01N15/14 ,  G01N33/483

CPC classification number: G01N21/6408 ,  G01N15/1429

Abstract: 本发明提供一种荧光检测装置、荧光检测方法以及荧光信号的信号处理方法，荧光检测装置用受光元件接收测量对象物受以规定频率调制的激光照射后发出的荧光，并输出输出电平被调节的荧光信号，信号处理部通过将所输出的荧光信号与所述频率的调制信号混合，生成包括相位和强度信息的荧光数据，分析装置计算出测量对象物发出的荧光的、相对于所述调制信号的第一相位偏差，对于所计算出的第一相位偏差，进行与输出电平的调节条件相应的校正，以计算出第二相位偏差，分析装置进一步利用所计算出的第二相位偏差计算出测量对象物发出的荧光的荧光弛豫时间。

公开(公告)号：CN101960289A

公开(公告)日：2011-01-26

申请号：CN200980107755.9

申请日：2009-02-18

Applicant: 三井造船株式会社

Inventor： 星岛一辉 ,  林弘能 ,  中田成幸

IPC: G01N15/14 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6408 ,  G01N15/1427 ,  G01N2015/1438

Abstract: 本发明提供了荧光检测方法以及荧光检测装置，该方法和装置通过在照射激光以检测测定对象物发出的荧光时，与以往相比，能够正确计算出荧光松弛时间常数。其中，在测定对象物通过以规定频率的调制信号调制光强度的激光的照射位置时，收集受光装置接收的荧光的第1荧光信号。进而，在测定对象物通过激光的照射位置后，在激光的照射位置没有测定对象物的状态下，收集受光装置接收的荧光的第2荧光信号。使用收集的第1荧光信号和第2荧光信号，求出测定对象物的发出的荧光的荧光信号相对于调制信号的相位差信息，并从所求出的测定对象物发出的荧光的荧光信号的相位差信息中，求出测定对象物的荧光松弛时间常数。