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公开(公告)号：CN107167085A
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201710277954.0
申请日：2017-04-25
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供的是一种共光路自校准薄膜厚度测量装置及测量方法。包括光源输出模块、膜厚测量探头模块、干涉与解调模块以及采集与控制模块等四部分。本发明的测量探头能同时实现对传输光线的透射和反射，无待测薄膜时可实现两探头间绝对距离H的测量；待测薄膜安置在两探头中间，实现两探头与待测薄膜前后表面绝对距离H1和H2的测量；待测薄膜厚度d可由d＝H‑(H1+H2)确定。本发明实现不需标定样品即可对透明与不透明薄膜的厚度进行测量，干涉光束共光路克服了测量过程中由于测量系统内部机械不稳定和外部环境变化所带来的影响，具有自校准、测量结果可溯源、稳定性高等优点。
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公开(公告)号：CN105954004A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610201528.4
申请日：2016-04-01
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明属于光纤技术领域，具体涉及的是一种提高性能指标的后向散射随机匹配相干噪声测试仪。本发明由窄带光源1，宽带光源2，第一波分复用器3，光纤隔离器4，第一光纤耦合器5，第二波分复用器6，光电探测器7，信号处理单元8，三端口光纤环形器9，第一光电探测器10，第二光电探测器11，差分器12，信号处理单元13，第二光纤耦合器14，可调衰减器15，标定参考器件16，光程扫描器17，光纤连接器18，待测光纤器件19组成。本发明能够完成后向散射随机匹配相干噪声特性的测试与分析，以达到提高光学系统性能指标、发现其本身所存在的缺陷的目的。
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公开(公告)号：CN105953817A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610265230.X
申请日：2016-04-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01C25/00
CPC classification number: G01C25/00
Abstract: 本发明提供的是一种光纤陀螺核心敏感光路的组装方法。在Y波导芯片与2×2保偏耦合器、Y波导芯片和光纤环组装时，利用白光干涉分布式测量的特点，对Y波导输入、输出处的保偏光纤的对准情况进行测量，使用特征峰的幅值大小确定组装角度，将光纤陀螺与Y波导的制作过程合并，对器件进行筛选、对准和固化状态进行调整，实现2×2保偏耦合器、Y波导和光纤环之间无焊点的连接，提高光纤陀螺的一体化水平。本发明具有光纤陀螺核心敏感光路焊点少、一体化程度高、监测装置搭建简单、Y波导输入与输出口串扰低等优点，广泛用于光纤陀螺核心敏感光路的组装中。
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公开(公告)号：CN105865753A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610329545.6
申请日：2016-05-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01M11/30 , G01M11/0271
Abstract: 本发明提供的是一种光纤干涉仪臂长差的测量装置及测量方法。包括激光光源模块、被测光纤干涉仪模块、参考干涉仪模块和采集与控制模块。可调谐激光器发出波长线性变化的光进入被测干涉仪和参考干涉仪模块、使用计算机控制模拟量输出板卡驱动绕好光纤的压电陶瓷，解调得到的信号后获得两模块精确的位相变化量；改变参考干涉仪模块两臂光程差同时使用光源模块中的分布式反馈激光器结合PGC算法解调出光程差变化量；改变参考干涉仪两臂光程差后重复第一步；依据臂长差测量公式计算出被测光纤干涉仪臂长差。本发明通过引入压电陶瓷、分布式反馈激光器等，运用PGC算法可精确测得被测光纤干涉仪的臂长差，具有测量精度高、范围广和自动定标等优点。
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公开(公告)号：CN103900680B
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201410120580.8
申请日：2014-03-28
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明提供的是一种利用光源抑制偏振串音测量噪声的装置及检测方法。装置由宽谱光源、待测偏振器件、光程相关器、差分探测装置、光电信号转换与信号记录装置组成，特征是宽谱光源是具有高偏振度的低相干光源，光源之后放置具有高消光比的偏振器件；方法是：光源和偏振器件之间连接偏振态控制器，通过对光源输出光的偏振状态调节，使线偏振光与偏振器件的起偏角严格重合。该装置将高偏振度光源与高消光比偏振器件进行组合，通过提高注入到待测器件中信号光的消光比，来抑制光学相干域偏振计中的测量噪声，提高对器件偏振特性的测量精度。本发明结构简单、性能优良、调节容易，可广泛应用于光纤型保偏器件光学性能的高精度测量与分析等领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103900797B
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201410120591.6
申请日：2014-03-28
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种带有光程扫描位置和速度校正的光学相干域偏振测量装置。包括宽谱光源、待测偏振器件、光程相关器、光程扫描校正装置、干涉信号检测与处理装置，其特征是增加的光程扫描校正装置由激光光源、光纤3×3耦合器、光程扫描装置中的移动反射镜、法拉第旋镜、光电探测器构成；光纤3×3耦合器对干涉信号进行移相完成Michelson型光纤干涉仪的无源信号调制；法拉第旋镜用来消除干涉仪的偏振衰落；基于双探测器的校正算法实现对光程扫描位置和速度的高精度和快速测量。该装置提高了光程扫描的精度及均匀性，具有体积小、测量精度高、易与现有应用结构结合等优点，广泛用于基于白光干涉测量远离的干涉光程扫描与测试中。
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公开(公告)号：CN105157733A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510293444.3
申请日：2015-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01D5/26
Abstract: 本发明设计属于光纤干涉仪测量领域，具体涉及到一种改进的生成载波相位PGC解调方法。改进的生成载波相位PGC解调方法，用干涉仪后端的3×3耦合器输出的第一路固定相移FPS信号和第二路FPS信号进行FPS算法相位解调；第一路PGC信号采用相位生成载波算法进行解调，最后将两种算法解调结果进行合理融合。本发明将基于3×3耦合器的固定相移法与PGC算法相结合，使用PGC算法解调低频小信号，使用FPS算法输出高频大信号，这样可以在保持原有的采样率的情况下提高系统的相位分辨率，增大动态范围最终实现保持采样率不变的情况下，增加相位分辨率与动态范围，消除伴生调幅影响。
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公开(公告)号：CN102927914B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201210381978.8
申请日：2012-10-10
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供的是一种超短基线顺变柱体结构光纤位移传感器及光纤应变仪。光纤应变仪包括光纤位移传感器（1）、测量基线（4）、基线固定装置（5）、悬吊系统（3）、测量控制和信号记录与处理系统（6）、测量标定装置（7），光纤位移传感器（1）固定在第1基岩（21）上并与测量基线（4）的首端（41）连接，测量基线（4）的末端（42）安装测量标定装置（7）、并通过基线固定装置（5）固定在第2基岩（22）上，测量基线（4）的中间安装悬挂系统（3），位移传感器（1）和测量标定装置（7）通过信号连接线与测量控制和信号记录与处理系统（6）连接。本发明用于地球物理学研究，观测地壳应变和固体潮汐、获取地震前兆信息等。
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公开(公告)号：CN104792503A
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201510223974.0
申请日：2015-05-05
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种增强测量信号的信噪比，提高偏振串扰测量的灵敏度和动态范围，用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析的光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置。一种光学偏振器件分布式串扰测量灵敏度增强的装置，包括宽谱光源、起偏器、待测偏振器件、第一光纤旋转连接器、第二光纤旋转连接器、光程解调与信号探测器、信号检测与处理装置。本发明在单一相关器测量极限的基础上，采用光程相关器两支路同步测量的结构，使用偏振分束器将传输在两偏振主轴上的信号光分离，两路干涉信号同步扫描后线性叠加，在将测量信噪比提升倍的同时，又能测量分布式串扰的绝对强度，大幅提高测量系统灵敏度和准确性。
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公开(公告)号：CN104503081A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201410777333.5
申请日：2014-12-15
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明属于光纤技术领域，具体涉及的是一种可用于多路复用光纤白光干涉传感器阵列的解调系统中的基于环形光纤反射镜的共光路菲索干涉仪型光程相关器。一种基于环形光纤反射镜的共光路菲索干涉仪型光程相关器，将环形光纤反射镜与一个光纤自聚焦透镜准直器相连接，光纤自聚焦透镜准直器被固定在一个精密滑移台的基座上，一个平面光学反射镜或直角棱镜被固定在可以滑移的平台上，正对光纤准直器，构成了一个光程可调的菲索干涉仪。本发明减少了光路对系统探测带来的影响，降低了系统的光功率衰减和损耗，增强了系统的探测能力，简化了光学系统光路结构，降低了系统的成本，提高了系统的稳定性与可靠性。
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