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公开(公告)号：CN104280215A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410535191.1
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光学器件测量技术领域，具体涉及一种Y波导的双通道光学性能双向多对轴角度自动测试装置。包括高偏振稳定度宽谱光源、光信号换轴机构、光信号通道方向切换机构、待测集成波导调制器即Y波导、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，光信号换轴机构具有第一输入端尾纤、第二输入端尾纤，第三输出端尾纤、第四输出端尾纤分别与高偏振稳定度宽谱光源、光程解调装置、光信号通道方向切换机构的第一输入端、第二输入端连接。使用计算机控制装置的换轴、换向、换通道功能，可以对待测波导器件实现多对轴角度、双向、双通道的测试。其测试结果更加详细、全面和精确。
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公开(公告)号：CN103900797A
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201410120591.6
申请日：2014-03-28
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种带有光程扫描位置和速度校正的光学相干域偏振测量装置。包括宽谱光源、待测偏振器件、光程相关器、光程扫描校正装置、干涉信号检测与处理装置，其特征是增加的光程扫描校正装置由激光光源、光纤3×3耦合器、光程扫描装置中的移动反射镜、法拉第旋镜、光电探测器构成；光纤3×3耦合器对干涉信号进行移相完成Michelson型光纤干涉仪的无源信号调制；法拉第旋镜用来消除干涉仪的偏振衰落；基于双探测器的校正算法实现对光程扫描位置和速度的高精度和快速测量。该装置提高了光程扫描的精度及均匀性，具有体积小、测量精度高、易与现有应用结构结合等优点，广泛用于基于白光干涉测量远离的干涉光程扫描与测试中。
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公开(公告)号：CN104280217A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410535211.5
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导双通道光学性能测量装置。Y波导双通道光学性能测量装置，包括高偏振宽谱光源、待测Y波导器件、光学干涉扫描解调装置、偏振串音检测与记录装置：待测Y波导的第一输出保偏尾纤、第二通道输出保偏尾纤分别与光学干涉扫描解调装置的第一输入端、第二输入端连接，构成马赫-泽德干涉仪；光学干涉扫描解调装置依次由光程发生器、光程扫描装置和光电探测器连接构成。该测试装置使用Y波导作为白光干涉仪的一部分测试其两个输出通道光学性能，两个通道不会交叉干扰，这样使测试结果更加准确。
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公开(公告)号：CN104280216A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410535202.6
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法。Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置，包括高偏振宽谱光源、待测集成波导调制器即Y波导、双通道光耦合装置、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，双通道光耦合装置第一输入端，第一输入端连接Y波导第一通道输出端、第二通道输出端，将两个通道的光信号合并为一路，由输出端输出送入光程解调装置。该测试装置使Y波导的测试更加简便易行，其装置将待测试器件的两个输出通道光信号耦合为一路，然后仅仅用一套解调干涉仪即可实现双通道性能同时测量。这很好保证了测试的一致性，提高了测试精度。
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公开(公告)号：CN103900798A
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201410120888.2
申请日：2014-03-28
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种带有光程扫描在线校正的光学相干域偏振测量装置。包括宽谱光源、待测偏振器件、光程相关光路、窄带光源、光纤干涉信号解调模块、信号处理系统，其特征是由波分复用器和光纤耦合器构成两个嵌套复用的Mach-Zehnder干涉仪，它们共用同一个光学延迟线；一个干涉仪用于偏振相干测量的光程相关解调，另外一个完成光学延迟线光程扫描位置和均匀性校正；基于3×3耦合器的无源调制光路实现干涉仪信号的快速解调，同时获得精确光程扫描位置和白光干涉信号幅度。该装置可以实现光程扫描精确性的在线校正，消除光路受外界环境影响引起的畸变，具有体积小、测量精度高、等优点，能广泛用于白光干涉测量原理与技术领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103900798B
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201410120888.2
申请日：2014-03-28
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种带有光程扫描在线校正的光学相干域偏振测量装置。包括宽谱光源、待测偏振器件、光程相关光路、窄带光源、光纤干涉信号解调模块、信号处理系统，其特征是由波分复用器和光纤耦合器构成两个嵌套复用的Mach-Zehnder干涉仪，它们共用同一个光学延迟线；一个干涉仪用于偏振相干测量的光程相关解调，另外一个完成光学延迟线光程扫描位置和均匀性校正；基于3×3耦合器的无源调制光路实现干涉仪信号的快速解调，同时获得精确光程扫描位置和白光干涉信号幅度。该装置可以实现光程扫描精确性的在线校正，消除光路受外界环境影响引起的畸变，具有体积小、测量精度高、等优点，能广泛用于白光干涉测量原理与技术领域。
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公开(公告)号：CN104280217B
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201410535211.5
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导双通道光学性能测量装置。Y波导双通道光学性能测量装置，包括高偏振宽谱光源、待测Y波导器件、光学干涉扫描解调装置、偏振串音检测与记录装置：待测Y波导的第一输出保偏尾纤、第二通道输出保偏尾纤分别与光学干涉扫描解调装置的第一输入端、第二输入端连接，构成马赫‑泽德干涉仪；光学干涉扫描解调装置依次由光程发生器、光程扫描装置和光电探测器连接构成。该测试装置使用Y波导作为白光干涉仪的一部分测试其两个输出通道光学性能，两个通道不会交叉干扰，这样使测试结果更加准确。
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公开(公告)号：CN104280216B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201410535202.6
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法。Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置，包括高偏振宽谱光源、待测集成波导调制器即Y波导、双通道光耦合装置、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，双通道光耦合装置第一输入端，第一输入端连接Y波导第一通道输出端、第二通道输出端，将两个通道的光信号合并为一路，由输出端输出送入光程解调装置。该测试装置使Y波导的测试更加简便易行，其装置将待测试器件的两个输出通道光信号耦合为一路，然后仅仅用一套解调干涉仪即可实现双通道性能同时测量。这很好保证了测试的一致性，提高了测试精度。
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公开(公告)号：CN104280215B
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201410535191.1
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导的双通道光学性能双向多对轴角度自动测试装置。包括高偏振稳定度宽谱光源、光信号换轴机构、光信号通道方向切换机构、待测集成波导调制器即Y波导、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，光信号换轴机构具有第一输入端尾纤、第二输入端尾纤，第三输出端尾纤、第四输出端尾纤分别与高偏振稳定度宽谱光源、光程解调装置、光信号通道方向切换机构的第一输入端、第二输入端连接。使用计算机控制装置的换轴、换向、换通道功能，可以对待测波导器件实现多对轴角度、双向、双通道的测试。其测试结果更加详细、全面和精确。
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公开(公告)号：CN103900797B
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201410120591.6
申请日：2014-03-28
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种带有光程扫描位置和速度校正的光学相干域偏振测量装置。包括宽谱光源、待测偏振器件、光程相关器、光程扫描校正装置、干涉信号检测与处理装置，其特征是增加的光程扫描校正装置由激光光源、光纤3×3耦合器、光程扫描装置中的移动反射镜、法拉第旋镜、光电探测器构成；光纤3×3耦合器对干涉信号进行移相完成Michelson型光纤干涉仪的无源信号调制；法拉第旋镜用来消除干涉仪的偏振衰落；基于双探测器的校正算法实现对光程扫描位置和速度的高精度和快速测量。该装置提高了光程扫描的精度及均匀性，具有体积小、测量精度高、易与现有应用结构结合等优点，广泛用于基于白光干涉测量远离的干涉光程扫描与测试中。
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