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公开(公告)号：CN103743551B
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201310739315.3
申请日：2013-12-30
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种多功能铌酸锂集成器件的光学性能测量方法。本方法包括：测量波导器件输入保偏尾纤的长度；测量波导芯片的长度；测量波导器件输出保偏尾纤的长度；对准输入/输出尾纤慢轴与波导芯片的传输轴；获取第一次分布式偏振串音测量结果；变换波导器件的光注入条件；获取第二次分布式偏振串音测量结果；通过对数据的分析和计算，获得波导器件光学参量。该方法可以准确地获得波导芯片的消光比和线性双折射，还能够同时获得芯片波导输入/输出端尾纤的耦合串音、线性双折射，输入/输出延长光纤焊点，以及波导芯片和连接尾纤内部光学缺陷；降低了信号读取与识别的难度，简化了数据分析与处理的过程。
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公开(公告)号：CN103900799B
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201410120901.4
申请日：2014-03-28
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种可抑制干涉噪声的光学相干偏振测量装置。它由高偏振稳定度宽谱光源、待测元件、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置组成，光程解调装置中含有用于消除光学干涉偏振衰落效应的法拉第旋光器和用于光路差分探测的光环行器，在法拉第旋光器、光环行器之前分别放置偏振态控制器；通过对传输光偏振状态的调节，使输入光的偏振态满足布鲁斯特角下的最小反射条件，来减小和消除器件中残余反射光信号，达到抑制光学干涉噪声，提高偏振串音测量灵敏度的目的。本装置具有测量精度高、动态范围大、体积小、调节简便、损耗低、可靠性高等优点，可以广泛应用于80dB以上高消光比集成波导和偏振光学器件的光学性能定量测试。
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公开(公告)号：CN103746745A
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：CN201310739371.7
申请日：2013-12-30
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: H04B10/25
Abstract: 本发明属于光纤传感与光学测量领域，具体涉及到了一种大量程光学延迟装置。大量程光学延迟装置，由阶跃型光程倍增装置与连续式光程扫描装置通过传输光纤连接而成；其中，连续式光程扫描装置的光程连续扫描范围为0～X0；阶跃型光程倍增装置（110）由n个长度固定的不同延迟光路a0、a1……an组成，延迟光路的光程分别为L0、L1……、Ln，L0=0，n=0，1，2，……，相邻延迟光路的光程增加满足Ln+1-Ln＜X0，X0-d＜Ln+1-Ln＜X0，且Ln+2-Ln+1≤Ln+1-Ln，本发明将固定延迟模块和可变光程延迟机构组合在一起，实现了任意光程的连续扩展；通过本装置实现了光程的无缝接续，借助于扫描台的高精度，满足了在同一精度下的连续扫描功能。
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公开(公告)号：CN102928198B
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201210379406.6
申请日：2012-10-09
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种光学器件偏振串扰测量的全光纤测试装置。包括宽谱光源（501）、起偏器（511）、待测偏振器件（522）、光程相关器（530）、差分探测装置（550）、光电信号转换与信号记录装置（560），宽谱光源（501）通过起偏器（511）、第1旋转连接器（521）与待测光纤器件（522）连接，再通过第2旋转连接器（523）与偏振分束Michelson结构光程相关器（530）连接；光程相关器（530）通过第3旋转连接器（541）连接偏振差分探测装置（550）后，与干涉信号检测与处理装置（560）再连接。本发明具有体积小、测量精度高、温度和振动稳定性好等优点，广泛用于光学器件偏振性能的高精度测量与分析。
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公开(公告)号：CN104280217A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410535211.5
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导双通道光学性能测量装置。Y波导双通道光学性能测量装置，包括高偏振宽谱光源、待测Y波导器件、光学干涉扫描解调装置、偏振串音检测与记录装置：待测Y波导的第一输出保偏尾纤、第二通道输出保偏尾纤分别与光学干涉扫描解调装置的第一输入端、第二输入端连接，构成马赫-泽德干涉仪；光学干涉扫描解调装置依次由光程发生器、光程扫描装置和光电探测器连接构成。该测试装置使用Y波导作为白光干涉仪的一部分测试其两个输出通道光学性能，两个通道不会交叉干扰，这样使测试结果更加准确。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104280216A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410535202.6
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法。Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置，包括高偏振宽谱光源、待测集成波导调制器即Y波导、双通道光耦合装置、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，双通道光耦合装置第一输入端，第一输入端连接Y波导第一通道输出端、第二通道输出端，将两个通道的光信号合并为一路，由输出端输出送入光程解调装置。该测试装置使Y波导的测试更加简便易行，其装置将待测试器件的两个输出通道光信号耦合为一路，然后仅仅用一套解调干涉仪即可实现双通道性能同时测量。这很好保证了测试的一致性，提高了测试精度。
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公开(公告)号：CN103900799A
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201410120901.4
申请日：2014-03-28
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种可抑制干涉噪声的光学相干偏振测量装置。它由高偏振稳定度宽谱光源、待测元件、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置组成，光程解调装置中含有用于消除光学干涉偏振衰落效应的法拉第旋光器和用于光路差分探测的光环行器，在法拉第旋光器、光环行器之前分别放置偏振态控制器；通过对传输光偏振状态的调节，使输入光的偏振态满足布鲁斯特角下的最小反射条件，来减小和消除器件中残余反射光信号，达到抑制光学干涉噪声，提高偏振串音测量灵敏度的目的。本装置具有测量精度高、动态范围大、体积小、调节简便、损耗低、可靠性高等优点，可以广泛应用于80dB以上高消光比集成波导和偏振光学器件的光学性能定量测试。
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公开(公告)号：CN103743551A
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：CN201310739315.3
申请日：2013-12-30
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种多功能铌酸锂集成器件的光学性能测量方法。本方法包括：测量波导器件输入保偏尾纤的长度；测量波导芯片的长度；测量波导器件输出保偏尾纤的长度；对准输入/输出尾纤慢轴与波导芯片的传输轴；获取第一次分布式偏振串音测量结果；变换波导器件的光注入条件；获取第二次分布式偏振串音测量结果；通过对数据的分析和计算，获得波导器件光学参量。该方法可以准确地获得波导芯片的消光比和线性双折射，还能够同时获得芯片波导输入/输出端尾纤的耦合串音、线性双折射，输入/输出延长光纤焊点，以及波导芯片和连接尾纤内部光学缺陷；降低了信号读取与识别的难度，简化了数据分析与处理的过程。
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公开(公告)号：CN104280217B
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201410535211.5
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导双通道光学性能测量装置。Y波导双通道光学性能测量装置，包括高偏振宽谱光源、待测Y波导器件、光学干涉扫描解调装置、偏振串音检测与记录装置：待测Y波导的第一输出保偏尾纤、第二通道输出保偏尾纤分别与光学干涉扫描解调装置的第一输入端、第二输入端连接，构成马赫‑泽德干涉仪；光学干涉扫描解调装置依次由光程发生器、光程扫描装置和光电探测器连接构成。该测试装置使用Y波导作为白光干涉仪的一部分测试其两个输出通道光学性能，两个通道不会交叉干扰，这样使测试结果更加准确。
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公开(公告)号：CN104280216B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201410535202.6
申请日：2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域，具体涉及到一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法。Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置，包括高偏振宽谱光源、待测集成波导调制器即Y波导、双通道光耦合装置、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置，双通道光耦合装置第一输入端，第一输入端连接Y波导第一通道输出端、第二通道输出端，将两个通道的光信号合并为一路，由输出端输出送入光程解调装置。该测试装置使Y波导的测试更加简便易行，其装置将待测试器件的两个输出通道光信号耦合为一路，然后仅仅用一套解调干涉仪即可实现双通道性能同时测量。这很好保证了测试的一致性，提高了测试精度。
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