一种硅通孔结构及其制作方法

    公开(公告)号:CN106057757A

    公开(公告)日:2016-10-26

    申请号:CN201610535367.2

    申请日:2016-07-08

    CPC classification number: H01L23/481 H01L21/76898

    Abstract: 本发明公开了一种硅通孔结构及其制作方法,所述硅通孔结构,包括基底,其特征是,所述基底设有通孔,通孔贯穿基底的正面和背面,所述通孔与基底的接触面间设有绝缘层,通孔的两端设有凸起块;所述硅通孔结构的制作方法,其特征是,包括如下步骤:1)制作第一盲孔;2)制作第一绝缘层;3)填充导电材料;4)制作第二盲孔;5)制作第二绝缘层;6)贯通两盲孔;7)形成硅通孔。这种硅通孔结构能够使芯片三维叠层封装更加简单可靠。这种方法降低了加工高深宽比或超高深宽比的硅通孔结构的难度,实现了高深宽比或超高深宽比的硅通孔结构的制作,工艺简单同时兼容了半导体的制作工艺。

    混合信号电路边界扫描测试系统及测试方法

    公开(公告)号:CN102818986A

    公开(公告)日:2012-12-12

    申请号:CN201210296485.4

    申请日:2012-08-20

    Abstract: 本发明为混合信号电路边界扫描测试系统及测试方法,本系统微机经微处理器连接混合信号电路边界扫描测试控制器的处理器接口。混合信号电路边界扫描测试控制器包括主机模块及经读写数据总线与之连接的各功能模块,其中模拟仪器平台的混合信号控制接口连接包括程控信号源和电压采集模块的模拟仪器平台。本测试方法包括数字信号和模拟信号电路的测试,前者与现有技术相同,后者步骤为Ⅰ配置信息,Ⅱ测试指令,Ⅲ发送测试矢量连接测试点,Ⅳ模拟激励控制,Ⅴ采集响应电压。对各种测试模型,重复Ⅲ-Ⅴ,由激励的大小及响应结果建立方程,求得被测电路的参数或性能指标。本发明解决了矢量施加、激励施加及电压采集的同步;实现混合信号电路在线测试。

    混合信号电路边界扫描测试控制器

    公开(公告)号:CN102809934A

    公开(公告)日:2012-12-05

    申请号:CN201210297138.3

    申请日:2012-08-20

    Abstract: 本发明为混合信号电路边界扫描测试控制器,包括主机模块及经读写数据总线与主机模块连接的计数模块、命令模块、测试时钟分频器、通用寄存器组、模拟寄存器组、串行扫描模块和模拟仪器平台控制模块,并配有处理器接口和测试总线接口。模拟仪器平台控制模块配有混合信号控制接口,该接口连接产生电压/电流激励信号的程控信号源和采集被测电路响应信号的电压采集器。主机模块的处理器接口连接微处理器。串行扫描模块配有两组测试总线接口,混合信号控制接口为SPI接口、与模拟仪器平台连接。本控制器便于组装混合信号电路边界扫描测试系统进行数字/模拟边界扫描测试,解决了数字矢量施加、模拟测试激励施加及电压采集三者的同步问题。

    一种实时云纹干涉图高速相位测量及提取系统

    公开(公告)号:CN209416278U

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201822212588.3

    申请日:2018-12-27

    Abstract: 本实用新型提出一种实时云纹干涉图高速相位测量及提取系统,该测量系统包括激光器、分光耦合器、相移器、隔振平台、底座、平移台、多维调节加载架、试件放置台、云纹干涉光路结构、可调节支杆、图像采集模块和控制模块;所述激光器、分光耦合器、相移器、底座设置于所述隔振平台上,所述平移台设置于底座上,所述多维调节加载架设置于平移台上,所述试件放置台设置于多维调节加载架上,所述激光器通过所述分光耦合器与所述云纹干涉光路结构连接,所述云纹干涉光路结构设置于所述试件放置台的上方空间;所述相移器与所述试件放置台连接;激光器发出的光经过云纹干涉光路结构后照射到待测试件表面,由待测试件反射至图像采集模块中。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    线束的杨氏模量自动测试装置

    公开(公告)号:CN207964484U

    公开(公告)日:2018-10-12

    申请号:CN201820234735.4

    申请日:2018-02-09

    Abstract: 本实用新型公开了线束的杨氏模量自动测试装置,包括轴向拉力机构和线束夹持机构,所述轴向拉力机构包括机架和第一丝杠,机架包括上盖板,上盖板底面设有第一轴承支架和第二轴承支架,第一丝杠一端穿过第一轴承支架,另一端与第二轴承支架固接,所述线束夹持机构的第一线束夹持单元的上横梁和第二线束夹持单元的上横梁与第一丝杠滑动连接,第二线束夹持单元的第一支梁和第二支梁之间设有第二支架,第二支架固接拉力传感器。这种装置能自动完成线束拉伸长度的测量,提供与设定值一致的恒定拉力,且能自动夹持线束并使夹持线束的夹持力与设定值一致,还能提高线束的杨氏模量参数测量的准确性、设备的自动化程度和工作效率,结构简单,操作方便。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    线缆性能测试设备的自动压紧装置

    公开(公告)号:CN209911400U

    公开(公告)日:2020-01-07

    申请号:CN201822186759.X

    申请日:2018-12-25

    Abstract: 本实用新型公开了一种线缆性能测试设备的自动压紧装置,包括有方形框体,方形框体的两侧边上相对设有滑槽,方形框体上自上而下设置有上压紧块和下压紧块,上压紧块和下压紧块的两端分别通过滑块匹配安装在方形框体的两侧的滑槽内,上压紧块和下压紧块之间设置有复位弹簧以使得上压紧块和下压紧块在静置时互相分离,上压紧块上设有上电磁铁,下压紧块上设有下电磁铁,上电磁铁和下电磁铁通电时具有互相吸引,以使得上压紧块和下压紧块互相靠近。本实用新型能够大大提高线缆的压紧的自动化程度,从而提高工作效率、降低劳动强度,且能够精确控制压紧力,从而实现根据不同线缆或者相同规格线缆施给相应的、合理的压紧力。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    线缆的杨氏模量检测装置
    148.
    实用新型

    公开(公告)号:CN209911114U

    公开(公告)日:2020-01-07

    申请号:CN201920140358.2

    申请日:2019-01-28

    Abstract: 本实用新型公开了一种线缆的杨氏模量检测装置,包括机架、拉力传感器以及拉伸机构,拉伸机构包括有驱动机构和压紧机构,压紧机构包括有第一压紧机构和第二压紧机构,第一压紧机构设置在驱动机构上,第二压紧机构设置在拉力传感器上,第一压紧机构和第二压紧机构分别包括框体以及框体的两侧边上的滑槽,框体上自上而下设置有两块压紧块,压紧块的两端分别通过滑块匹配安装在滑槽内,两块压紧块之间设置有弹性件以使得两块压紧块在静置时互相分离,两块压紧块上分别设有电磁铁,电磁铁通电时互相吸引,以使得两块压紧块互相靠近。本实用新型能够大大提高线缆的压紧的自动化程度,从而提高工作效率、降低劳动强度,确保线缆弹性模量的测量精度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    线束自动绑扎设备的扎带拉紧剪切装置

    公开(公告)号:CN208291534U

    公开(公告)日:2018-12-28

    申请号:CN201721687577.X

    申请日:2017-12-07

    Abstract: 本实用新型公开了线束自动绑扎设备的扎带拉紧剪切装置,包括机架及机架端部由外到内的方向依次设有的剪切单元和拉紧单元,拉紧单元包括夹持机构、传感机构和驱动机构,机架上设有平行的第一导轨座和第二导轨座,第一导轨座上由下到上依次设有第一推杆导轨和第一滑块,第二导轨座上由下到上依次设有第二推杆导轨和第二滑块,第一滑块与第二滑块之间设有横梁座;夹持机构包括滑动导轨,滑动导轨叠接在横梁座底部内侧;传感机构包括传感器上支架,传感器上支架底部与横梁座底部连接。这种装置可配套各种小型线束绑扎设备,拉紧剪切动作精确稳定,通过力反馈系统使整个拉紧剪切过程处于闭环内,实现拉紧剪切的柔性自动,工作效率高,降低了生产成本。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    线束性能测试设备的自动夹持装置

    公开(公告)号:CN207953631U

    公开(公告)日:2018-10-12

    申请号:CN201820045507.2

    申请日:2018-01-11

    Abstract: 本实用新型公开了线束性能测试设备的自动夹持装置,包括线束夹持机构、传感机构和驱动机构,线束夹持机构包括平行的上横梁和下横梁,上横梁和下横梁之间设有与上横梁垂直的第一支梁和第二支梁,第一支梁和第二支梁之间设有与第一支梁平行的丝杠,丝杠的一端连接上横梁,另一端穿过下横梁,第一支梁和丝杠之间设有与丝杠垂直的上夹持块和下夹持块,丝杠穿过上夹持块和下夹持块;传感机构包括压力传感器、接近传感器和光电传感器;驱动机构包括步进电机、步进电机架、第一同步轮和第二同步轮。这种装置能自动完成线束的夹持并使夹持线束的夹持力与设定值一致,提高了线束夹持的自动化程度和工作效率,且结构简单,操作方便。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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