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公开(公告)号：CN114998184A
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202210172068.2
申请日：2022-02-24
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 在用于处理显微镜图像(10)的方法中，在输入图像处理程序(B)之前，从显微镜图像(10)形成输入图像(30)。图像处理程序(B)包括用于图像处理的学习模型(M)，所述学习模型通过显示具有特定图像属性(S0，α0)的结构(15)的训练图像(T)学习。图像处理程序(B)从输入图像(30)计算图像处理结果(19)。通过图像转换程序(U)将显微镜图像(10)转换为输入图像(30)，其方式是相对于显微镜图像(10)的结构(15)的图像特性(S1，α1)修改输入图像(30)中结构(15)的图像特性(S2，α2)，以使其更接近训练图像(T)的结构(15)的性质(S0，α0)。
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公开(公告)号：CN114944316A
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202210117944.1
申请日：2022-02-08
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
IPC: H01J37/26 , H01J37/28 , G01N23/04 , G01N23/2251
Abstract: 本发明涉及一种用于操作粒子辐射设备的方法。此外，本发明还涉及一种计算机程序产品和一种用于执行该方法的粒子辐射设备。在本发明中提出的是，通过操控第一放大器单元和第二放大器单元来从粒子辐射设备的第一放大倍率范围中选择一个放大倍率。如果在本发明中确定给定了原本可能促使粒子辐射设备切换为来自第二放大倍率范围的另一放大倍率的前提条件，则本发明恰好提出的是，在无需将放大倍率切换为来自第二放大倍率范围的放大倍率的情况下执行以下方法步骤，即：将模拟放大器信号从粒子辐射设备的放大器单元输送至扫描单元；通过使用扫描单元引导粒子射束经过物体；以及利用粒子射束对该物体进行成像、加工和/或分析。
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公开(公告)号：CN111812831B
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202010654489.X
申请日：2015-08-05
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 针对高分辨率的扫描显微成像，试样(2)被利用照明辐射(5)以如下方式受激发射荧光辐射，使得照明辐射(5)集束到试样(2)中或上的一点上，以形成受衍射限制的光斑(14)。所述点受衍射限制地成像到具有位置分辨能力的平面检测器(19)上的衍射图(17)中，其中，平面检测器(19)具有对衍射图(17)的衍射结构加以分辨的位置分辨能力。试样(2)借助于具有小于光斑(14)直径一半的步进幅度的、不同的扫描位置来采样。基于平面扫描器(19)的数据以及基于对应上述数据的扫描位置产生试样(2)的图像，所述图像具有通过成像的分辨率极限来升高的分辨率。为了对试样(2)的荧光辐射中的至少两个预先确定的波长范围加以区分，在平面检测器(19)上针对至少两个预先确定的波长范围，产生相应数量的衍射艾里斑(30‑33)，所述衍射艾里斑沿侧向彼此错开，使得衍射图(17)由彼此错开的衍射艾里斑(30‑33)构成。在产生试样(2)的图像时，对衍射艾里斑(30‑33)加以评估。
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公开(公告)号：CN110320657B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN201910237335.8
申请日：2019-03-27
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Inventor： 拉尔斯·施托普 , 托马斯·奥尔特 , 克里斯蒂安·迪特里希 , 马库斯·施蒂克
Abstract: 本发明的各个方面涉及通过角度可变照明来促进测试对象(499)的自动聚焦技术的技术。此处，在多个角度可变照明的几何构型(301，302)捕获图像数据集。评估所捕获的图像数据集以确定Z位置。
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公开(公告)号：CN109791265B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN201780059688.2
申请日：2017-09-27
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及致动器(1)，其在光学布置(2)的束路径中调整待移动的元件(6)，该致动器(1)包括待移动的元件(6)、载体(5)和至少一个SM元件(7.1至7.4)，其中该SM元件(7.1至7.4)连接到待移动的元件(6)并且设计为支撑在载体(5)上，使得当SM元件(7.1至7.4)的尺寸发生变化的情况下，在待移动的元件(6)和载体(5)之间产生定向的力作用(F)。本发明还涉及在光学布置(2)的束路径中调整待移动的元件(6)的装置，并且涉及致动器(1)的用途。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110383137B
公开(公告)日：2022-06-07
申请号：CN201880015885.9
申请日：2018-03-01
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 在一种用于以三维方式对物体(3)成像的显微术方法中，通过成像光束路径将物体成像成位于第一图像平面上的第一图像(12)。第一微透镜阵列(8a)布置在第一图像平面上，并且具有相同节距的第二微透镜阵列(8b)布置在第一微透镜阵列的下游。两个微透镜阵列(8a、8b)将第一图像(12)横向分段成片段(15、16)，并且将第一图像(12)成像成第二图像(13)，在第二图像(13)中，片段被间隔开并且由间隙(17)分离。在微透镜阵列(8a、8b)下游的光瞳平面(14)上，提供相位掩模(9c)，相位掩模(9c)根据像素扩散函数为第二图像(13)的每个片段(15、16)产生光斑(18、19)。检测器(11)检测光斑的形状和结构，并且控制器(11)依据每个片段(15、16)的光斑(18、19)的形状和/或结构确定横向强度分布和深度说明，并且由此产生物体(3)的深度分辨图像。
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公开(公告)号：CN109297414B
公开(公告)日：2022-06-07
申请号：CN201810811339.8
申请日：2018-07-23
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 涉及用于确定层厚度的共焦显微镜和显微镜方法。共焦显微镜包括：光学部件，用于将照明光引导和聚焦到样本上；焦点调整设备，沿共焦显微镜的光轴调整照明光的焦点位置和样本位置之间的相对位移；光测量设备，对来自样本的照明光进行共焦测量，利用其记录属于焦点调整设备的不同设置的测量信号；评估设备，确定样本的层厚度，为此被配置为：确定在由光测量设备记录的测量图中的至少两个强度带的强度带位置，测量图表示根据焦点位置的测量的光强度；并根据强度带位置之间的位置差确定层厚度。评估设备被配置为：考虑到层处的照明光的干涉，使用数学模型确定层厚度，该数学模型针对重叠强度带描述强度带位置对于至少一个光波长和层厚度的依赖性。
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公开(公告)号：CN110573925B
公开(公告)日：2022-05-24
申请号：CN201880028869.3
申请日：2018-04-30
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 一种显微镜系统包括多个显微镜模块，其彼此连接以进行数据传输。显微镜系统的特征在于中央时钟发生器，其时钟信号被提供给所有的显微镜模块。显微镜模块被配置为，用于将该时钟信号或从其中导出的时钟用作内部时钟。此外，还描述了一种用于运行这种显微镜系统的对应的方法。
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公开(公告)号：CN110235045B
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN201880008086.9
申请日：2018-01-12
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
IPC: G02B21/36
Abstract: 本发明涉及一种用于利用显微镜对样品进行显微检查的方法，显微镜包括物镜和图像传感器，图像传感器用于转换由物镜成像到图像传感器上的图像。显微镜的视场能通过选择图像传感器的区段来改变。在方法的步骤中，利用显微镜拍摄样品的至少一个部分区域的初始图像(01)，为此在显微镜上选择第一视场。分析初始图像(01)，以便获知至少两个有区别的对部分区域成像的视场，其中，通过对部分区域成像的视场中的每个视场对初始图像(01)的部分区域成像。针对所获知的对部分区域成像的视场中的每个视场，拍摄样品的部分区域的图像(03)。本发明还涉及一种用于对样品进行显微检查的显微镜。
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公开(公告)号：CN114442298A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202111284619.6
申请日：2021-11-01
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于捕获图像数据的设备，其包括检测光束路径和用于在第一检测路径和第二检测路径之间分离检测辐射的装置。检测器位于每个检测路径中。微透镜阵列布置在至少一个检测器的上游。第一检测器具有第一空间分辨率，第二检测器具有第二空间分辨率，第一空间分辨率高于第二空间分辨率。此外或可选地，第一检测器具有第一时间分辨率，第二检测器具有第二时间分辨率，第一时间分辨率低于第二时间分辨率。存在用于评估第一和第二检测器的捕获的图像数据的评估单元，其被配置为使得每个检测器捕获的图像数据以计算方式组合在一起从而形成三维解析的结果图像。本发明还涉及一种包括根据本发明的设备的显微镜，以及一种捕获图像数据的方法。
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