一种用于制备高性能纳米银线透明导电薄膜的卷对卷制程方法

    公开(公告)号:CN106205863B

    公开(公告)日:2018-03-06

    申请号:CN201610568786.6

    申请日:2016-07-19

    Applicant: 中山大学

    Abstract: 本发明公开一种用于制备高性能纳米银线透明导电薄膜的卷对卷制程方法,依次包括放卷模块、涂布模块、复合模块以及收卷模块,所述的涂布模块依次包括表面处理模块、涂布装置及导电性增强模块,所述的复合模块依次包括固化胶复合模块、固化模块及剥离模块。本发明提出一种制备高性能纳米银线导电薄膜的卷对卷制程,手段简单,成本低廉,能够实现高性能柔性透明导电薄膜的大面积生产。

    一种可转移图案化的导电薄膜结构及其图案化方法

    公开(公告)号:CN107093494A

    公开(公告)日:2017-08-25

    申请号:CN201710173510.2

    申请日:2017-03-22

    Applicant: 中山大学

    CPC classification number: H01B5/14 H01B13/00

    Abstract: 本发明公开一种可转移图案化的导电薄膜结构及其图案化方法,通过在转移衬底上形成附着性增强层、导电层和感光膜层,在保证导电层与衬底的连接稳固性的情况下,进行图案化处理,形成可转移的导电图案,最后可通过转移衬底将导电图案转移至目标基底。提供了一种高稳定性、可兼容大面积量产的可转移的导电图案,为异形、曲面、可粘贴电子器件提供解决方案,具有较高的应用前景。

    一种纳米金属线透明导电薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN106782768A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201610667750.3

    申请日:2016-08-15

    Applicant: 中山大学

    CPC classification number: H01B5/14 H01B13/00

    Abstract: 本发明公开了一种纳米金属线透明导电薄膜及其制备方法。该薄膜的结构为硫醇保护层‑纳米金属线‑聚合物衬底。所述的纳米金属线部分嵌入聚合物衬底内,而金属纳米线裸露部分通过易与金、银、铜等金属成键的硫基,接枝了一层硫醇单分子保护层。在聚合物基质和硫醇单分子双层作用下,显著增强了复合薄膜的抗氧化与腐蚀性能和粘附性,且不影响薄膜的透光和导电性能。解决了目前透明导电薄膜所存在的不能兼顾纳米金属线稳定性,透光率,电导性,以及粘附性的难题,对现阶段的技术瓶颈实现了突破。

    一种基于微沟道结构的微纳米材料有序自组装图形化方法

    公开(公告)号:CN105152125B

    公开(公告)日:2017-04-19

    申请号:CN201510485096.X

    申请日:2015-08-10

    Applicant: 中山大学

    Inventor: 刘川 曹武 杨柏儒

    Abstract: 本发明提供了一种基于微沟道结构的微纳米材料有序自组装图形化方法,所述方法为在衬底基板上进行亲水或疏水处理,形成亲疏水两种界面,且两种界面间形成特定线宽的微沟道排列结构;然后将分散液涂覆在上述微沟道排列结构材料上,自发发生润湿和去润湿的自组装行为,获得图形化薄膜。本发明所述图形化方法通过亲疏水两种界面对分散液的不同接受程度,实现纳米材料在亲水图案区域的有序沉降,同时可以实现低维纳米材料的有序度调控,且本发明获得的有序薄膜应用于制备场效应晶体管器件、传感器件制备及太阳能电池器件制备,其特征性能均得到有效提升。

    一种封装材料的气体透过率多方法测量校正系统

    公开(公告)号:CN104777085A

    公开(公告)日:2015-07-15

    申请号:CN201510129226.6

    申请日:2015-03-23

    Applicant: 中山大学

    Abstract: 本发明公开一种封装材料的气体透过率多方法测量校正系统,多块薄膜状的测试样品设置于基板上,多个反应量检测装置分别检测与各块测试样品发生化学反应的指定气体的量,系统根据各块测试样品发生化学反应的指定气体的量,再结合封装胶体的表面积和测试时间计算得到封装材料的指定气体的透过率,本发明根据各块测试样品的比例验证各个测试样品测得的透过率的准确性,并且对各个测试样品得到的透过率进行加权平均,得到校正过的透过率。本发明利用多方法不同的测量灵敏度增大了测量范围。本发明构建了一个多方法、多测试样品测量结果相互校正的系统,能够验证每次测量时每种方法的测量可靠性,能进一步消除测量误差、提高测量的准确性和解析度。

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