公开(公告)号：CN107976644A

公开(公告)日：2018-05-01

申请号：CN201710771480.5

申请日：2017-08-31

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 永田真己 ,  渡部司也 ,  内田圭祐 ,  本间康平 ,  平林启

IPC: G01R33/00 ,  G01R33/09 ,  G01R33/07

CPC classification number: G01R33/0005 ,  G01R33/0206

Abstract: 本发明的磁场检测装置具备第一软磁体、第二软磁体和磁场检测元件。第一软磁体和第二软磁体，沿着包括第一方向和与该第一方向正交的第二方向的双方的第一面扩展，并且在与第一方向和第二方向的双方正交的第三方向上对向配置。磁场检测元件在第三方向上设置于第一软磁体与第二软磁体之间。

公开(公告)号：CN109786545B

公开(公告)日：2023-08-01

申请号：CN201811348219.5

申请日：2018-11-13

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 本间康平 ,  三浦聪

IPC: H10N50/10 ,  H10N50/85 ,  H10N50/01 ,  G01R33/09 ,  G01R33/00

Abstract: 本发明提供一种磁阻元件，其具有：磁化方向在外部磁场中改变的磁化自由层；磁化方向在外部磁场中固定的磁化固定层；以及设置在磁化自由层和磁化固定层之间且表现出磁阻效应的势垒层。势垒层为包含Mg和Al的合金的氧化物，且所述势垒层包括结晶区和非结晶区。

公开(公告)号：CN107976644B

公开(公告)日：2021-08-10

申请号：CN201710771480.5

申请日：2017-08-31

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 永田真己 ,  渡部司也 ,  内田圭祐 ,  本间康平 ,  平林启

IPC: G01R33/00 ,  G01R33/09 ,  G01R33/07

Abstract: 本发明的磁场检测装置具备第一软磁体、第二软磁体和磁场检测元件。第一软磁体和第二软磁体，沿着包括第一方向和与该第一方向正交的第二方向的双方的第一面扩展，并且在与第一方向和第二方向的双方正交的第三方向上对向配置。磁场检测元件在第三方向上设置于第一软磁体与第二软磁体之间。

公开(公告)号：CN108152762B

公开(公告)日：2021-03-05

申请号：CN201710770906.5

申请日：2017-08-31

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 永田真己 ,  渡部司也 ,  内田圭祐 ,  本间康平 ,  平林启

IPC: G01R33/02

Abstract: 本发明的磁场检测装置具备第一软磁体和磁场检测元件。第一软磁体具有第一平板部和第一凸部，第一平板部具有包括第一外缘的第一面，第一凸部设置在从第一面中的第一外缘后退的第一配置位置且在第一面的相反侧具有第一前端部。磁场检测元件设置在第一前端部的附近。

公开(公告)号：CN108152762A

公开(公告)日：2018-06-12

申请号：CN201710770906.5

申请日：2017-08-31

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 永田真己 ,  渡部司也 ,  内田圭祐 ,  本间康平 ,  平林启

IPC: G01R33/02

Abstract: 本发明的磁场检测装置具备第一软磁体和磁场检测元件。第一软磁体具有第一平板部和第一凸部，第一平板部具有包括第一外缘的第一面，第一凸部设置在从第一面中的第一外缘后退的第一配置位置且在第一面的相反侧具有第一前端部。磁场检测元件设置在第一前端部的附近。

公开(公告)号：CN109786545A

公开(公告)日：2019-05-21

申请号：CN201811348219.5

申请日：2018-11-13

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 本间康平 ,  三浦聪

IPC: H01L43/08 ,  H01L43/10 ,  H01L43/12 ,  G01R33/09 ,  G01R33/00

Abstract: 本发明提供一种磁阻元件，其具有：磁化方向在外部磁场中改变的磁化自由层；磁化方向在外部磁场中固定的磁化固定层；以及设置在磁化自由层和磁化固定层之间且表现出磁阻效应的势垒层。势垒层为包含Mg和Al的合金的氧化物，且所述势垒层包括结晶区和非结晶区。