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公开(公告)号：CN1527303A
公开(公告)日：2004-09-08
申请号：CN03137031.4
申请日：1998-07-14
Applicant: LG电子株式会社
Inventor： 吕运盛
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/0037 , G11B20/00086 , G11B20/00123 , G11B20/00586 , G11B20/1426
Abstract: 一种用于对光盘上的包括改动的第一信号的光盘记录测试数据进行复制保护的方法和设备，当再现时，这些改动的第一信号中的任意多个信号被再现为第二信号。第一和第二信号都代表在连续的一之间具有至少两个零的数据。用于光盘鉴别和再现的方法和设备通过重复再现测试数据生成测试数据的统计形式。如果测试数据与有可能也记录在光盘上的参考数据匹配，则该光盘被鉴定。一旦光盘被鉴定，则允许光盘的再现。如果测试数据形成再现数据的一部分，则将统计数据作为再现数据输出。
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公开(公告)号：CN1236944A
公开(公告)日：1999-12-01
申请号：CN99107205.7
申请日：1999-05-07
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B27/24 , G11B7/00718 , G11B7/0079 , G11B7/135 , G11B7/261 , G11B20/1816 , G11B20/1883 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/218 , G11B2220/2545 , G11B2220/2562 , G11B2220/2575
Abstract: 本发明提供了一种用来制造其中备用区与数据区比率互不相同的而且具有表示数据区与备用区之间的不相同的边界的信息的光记录介质的方法和装置,和一种用来向/从该光记录介质写入/重放数据的方法和装置。本发明通过对缺陷出现频率的实验观察给每个区分配合适数量的备用区而可能避免了光记录介质上分配的备用区多余或不足,从而有效利用了光记录介质。
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公开(公告)号：CN1146873C
公开(公告)日：2004-04-21
申请号：CN99107205.7
申请日：1999-05-07
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B27/24 , G11B7/00718 , G11B7/0079 , G11B7/135 , G11B7/261 , G11B20/1816 , G11B20/1883 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/218 , G11B2220/2545 , G11B2220/2562 , G11B2220/2575
Abstract: 本发明提供了一种用来制造其中备用区与数据区比率互不相同的而且具有表示数据区与备用区之间的不相同的边界的信息的光记录介质的方法和装置，和一种用来向/从该光记录介质写入/重放数据的方法和装置。本发明通过对缺陷出现频率的实验观察给每个区分配合适数量的备用区而可能避免了光记录介质上分配的备用区多余或不足，从而有效利用了光记录介质。
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公开(公告)号：CN1245332A
公开(公告)日：2000-02-23
申请号：CN99100409.4
申请日：1999-02-05
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 用于检测光盘介质质量的方法和装置,将光盘移入一个检测位置(例如将光盘设置在一个盘驱动器上),并在光盘的外区记录检测数据。当制造预录盘时不使用光盘的这种外区,一次写入光盘的使用者也不使用光盘的这种外区。根据重放在光盘外区的检测数据而产生的检测信号判断光盘的质量。根据质量判断,对光盘进行分类以进一步处理。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1188314A
公开(公告)日：1998-07-22
申请号：CN97125806.6
申请日：1997-12-18
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B7/00375 , G11B20/182 , G11B27/34 , G11B27/36 , G11B33/10 , G11B2220/2545 , G11B2220/2562
Abstract: 用于测试一种光盘存储介质的方法和装置首先记录测试数据在光盘的一个外部区域中。当制造一个已被预先记录的磁盘时,光盘的此外部区域没有被使用,而其也没有被一次写入光盘的用户使用。光盘的质量是根据从光盘的外部区域中再现的测试数据中产生的测试信号来判断的。
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公开(公告)号：CN1287372C
公开(公告)日：2006-11-29
申请号：CN98120038.9
申请日：1998-09-24
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B13/06
CPC classification number: G11B20/10527 , G11B7/00375 , G11B7/26
Abstract: 一种用于检测光盘介质质量的方法，通过跟踪光盘的预格式化结构而从所述光盘中再生一个信号，所述预格式化结构是指光盘在数据被记录在其上之前的结构；以及通过将所述信号与和所述预格式化结构的所述跟踪的类型相关的容限范围数据相比较，确定所述光盘的质量。还公开了一种用于检测光盘介质质量的装置。本发明可以通过从一个未记录光盘上反射的激光束来检测一个光盘上的缺陷。这使得可以对所有的光盘进行测试却不用浪费样本光盘，从而允许了更精确及更可靠的质量测试。
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公开(公告)号：CN1244104C
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：CN03137031.4
申请日：1998-07-14
Applicant: LG电子株式会社
Inventor： 吕运盛
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/0037 , G11B20/00086 , G11B20/00123 , G11B20/00586 , G11B20/1426
Abstract: 本发明涉及一种对光盘进行鉴别的方法，包括：以第一预定次数第一次再现来自所述光盘的第一区域的测试数据；根据以所述第一预定次数再现的所述测试数据，第一次生成代表所述测试数据的统计数据；和将所述统计数据与参考数据进行比较，根据比较的结果，第一次确定所述光盘是否是合法复制。
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公开(公告)号：CN1242401C
公开(公告)日：2006-02-15
申请号：CN99100409.4
申请日：1999-02-05
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 用于检测光盘介质质量的方法和装置，将光盘移入一个检测位置(例如将光盘设置在一个盘驱动器上)，并在光盘的外区记录检测数据。当制造预录盘时不使用光盘的这种外区，一次写入光盘的使用者也不使用光盘的这种外区。根据重放在光盘外区的检测数据而产生的检测信号判断光盘的质量。根据质量判断，对光盘进行分类以进一步处理。
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