公开(公告)号：CN1188314A

公开(公告)日：1998-07-22

申请号：CN97125806.6

申请日：1997-12-18

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 吕运盛 ,  金炯奎

IPC: G11B27/19 ,  G11B25/04

CPC classification number: G11B7/00375 ,  G11B20/182 ,  G11B27/34 ,  G11B27/36 ,  G11B33/10 ,  G11B2220/2545 ,  G11B2220/2562

Abstract: 用于测试一种光盘存储介质的方法和装置首先记录测试数据在光盘的一个外部区域中。当制造一个已被预先记录的磁盘时,光盘的此外部区域没有被使用,而其也没有被一次写入光盘的用户使用。光盘的质量是根据从光盘的外部区域中再现的测试数据中产生的测试信号来判断的。

公开(公告)号：CN1287372C

公开(公告)日：2006-11-29

申请号：CN98120038.9

申请日：1998-09-24

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 金大泳 ,  吕运盛 ,  金炯奎 ,  裵桐淅

IPC: G11B13/06

CPC classification number: G11B20/10527 ,  G11B7/00375 ,  G11B7/26

Abstract: 一种用于检测光盘介质质量的方法，通过跟踪光盘的预格式化结构而从所述光盘中再生一个信号，所述预格式化结构是指光盘在数据被记录在其上之前的结构；以及通过将所述信号与和所述预格式化结构的所述跟踪的类型相关的容限范围数据相比较，确定所述光盘的质量。还公开了一种用于检测光盘介质质量的装置。本发明可以通过从一个未记录光盘上反射的激光束来检测一个光盘上的缺陷。这使得可以对所有的光盘进行测试却不用浪费样本光盘，从而允许了更精确及更可靠的质量测试。

公开(公告)号：CN1114923C

公开(公告)日：2003-07-16

申请号：CN97125806.6

申请日：1997-12-18

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 吕运盛 ,  金炯奎

IPC: G11B27/19 ,  G11B25/04

CPC classification number: G11B7/00375 ,  G11B20/182 ,  G11B27/34 ,  G11B27/36 ,  G11B33/10 ,  G11B2220/2545 ,  G11B2220/2562

Abstract: 用于测试一种光盘存储介质的方法和装置首先记录测试数据在光盘的一个外部区域中。当制造一个已被预先记录的磁盘时，光盘的此外部区域没有被使用，而其也没有被一次写入光盘的用户使用。光盘的质量是根据从光盘的外部区域中再现的测试数据中产生的测试信号来判断的。

公开(公告)号：CN1212423A

公开(公告)日：1999-03-31

申请号：CN98120038.9

申请日：1998-09-24

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 金大泳 ,  吕运盛 ,  金炯奎 ,  裵桐淅

IPC: G11B13/06

CPC classification number: G11B20/10527 ,  G11B7/00375 ,  G11B7/26

Abstract: 一种用于检测光盘介质质量的方法和装置,从一个光盘中再生一个辅助信号,其中辅助信号与光盘的一个预格式化结构相对应。然后根据辅助信号确定光盘的质量。