公开(公告)号：CN1245332A

公开(公告)日：2000-02-23

申请号：CN99100409.4

申请日：1999-02-05

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 吕运盛 ,  金炯圭 ,  裴栋淅

IPC: G11B7/26 ,  G11B7/007

Abstract: 用于检测光盘介质质量的方法和装置,将光盘移入一个检测位置(例如将光盘设置在一个盘驱动器上),并在光盘的外区记录检测数据。当制造预录盘时不使用光盘的这种外区,一次写入光盘的使用者也不使用光盘的这种外区。根据重放在光盘外区的检测数据而产生的检测信号判断光盘的质量。根据质量判断,对光盘进行分类以进一步处理。

公开(公告)号：CN1242401C

公开(公告)日：2006-02-15

申请号：CN99100409.4

申请日：1999-02-05

Applicant: LG电子株式会社

Inventor： 吕运盛 ,  金炯圭 ,  裴栋淅

IPC: G11B7/26 ,  G11B7/007

Abstract: 用于检测光盘介质质量的方法和装置，将光盘移入一个检测位置(例如将光盘设置在一个盘驱动器上)，并在光盘的外区记录检测数据。当制造预录盘时不使用光盘的这种外区，一次写入光盘的使用者也不使用光盘的这种外区。根据重放在光盘外区的检测数据而产生的检测信号判断光盘的质量。根据质量判断，对光盘进行分类以进一步处理。