公开(公告)号：CN1955719B

公开(公告)日：2011-06-08

申请号：CN200610163907.5

申请日：2006-10-24

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 胡庆英 ,  D·W·哈米尔顿 ,  K·G·哈丁 ,  J·B·洛斯

IPC: G01N21/00 ,  G01N21/95 ,  G01N21/41 ,  G01B11/00 ,  G01B11/02 ,  G01B11/24 ,  G01M15/00 ,  G01M15/02

CPC classification number: G01B11/2513

Abstract: 用于检验物体的方法和装置;一种用于检验物体(12)的方法(38)包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。

公开(公告)号：CN1955719A

公开(公告)日：2007-05-02

申请号：CN200610163907.5

申请日：2006-10-24

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 胡庆英 ,  D·W·哈米尔顿 ,  K·G·哈丁 ,  J·B·洛斯

IPC: G01N21/00 ,  G01N21/95 ,  G01N21/41 ,  G01B11/00 ,  G01B11/02 ,  G01B11/24 ,  G01M15/00 ,  G01M15/02

CPC classification number: G01B11/2513

Abstract: 一种用于检验物体(12)的方法(38)包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。