公开(公告)号：CN104121872B

公开(公告)日：2018-04-13

申请号：CN201310150620.9

申请日：2013-04-26

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 谢广平 ,  贾明 ,  翟梓融 ,  保罗.查劳瑞 ,  凯文.G.哈丁 ,  宋桂菊

IPC: G01B11/30

CPC classification number: G01B11/303 ,  G01B11/24 ,  G01B11/30 ,  G01B11/306 ,  G01N21/47 ,  G01N21/55

Abstract: 本发明涉及一种表面粗糙度测量装置，该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射镜用于将该主发射光纤发射的光线反射至该测量口的一个测试点上，还用于将待测物体反射后的光线反射至该收集光纤中。该副反射镜用于将该副发射光纤发射的光线反射至该测量口的该测试点上。该外部电路用于选择性将一束激光发射至该主发射光纤及副发射光纤，用于接收该若干收集光纤收集的光线，及用于根据接收的光线计算该待测物体的表面粗糙度。

公开(公告)号：CN104121872A

公开(公告)日：2014-10-29

申请号：CN201310150620.9

申请日：2013-04-26

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 谢广平 ,  贾明 ,  翟梓融 ,  保罗.查劳瑞 ,  凯文.G.哈丁 ,  宋桂菊

IPC: G01B11/30

CPC classification number: G01B11/303 ,  G01B11/24 ,  G01B11/30 ,  G01B11/306 ,  G01N21/47 ,  G01N21/55

Abstract: 本发明涉及一种表面粗糙度测量装置，该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射镜用于将该主发射光纤发射的光线反射至该测量口的一个测试点上，还用于将待测物体反射后的光线反射至该收集光纤中。该副反射镜用于将该副发射光纤发射的光线反射至该测量口的该测试点上。该外部电路用于选择性将一束激光发射至该主发射光纤及副发射光纤，用于接收该若干收集光纤收集的光线，及用于根据接收的光线计算该待测物体的表面粗糙度。