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公开(公告)号：CN110146473B
公开(公告)日：2020-10-13
申请号：CN201910305072.X
申请日：2019-04-16
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种轴向超分辨的双光子荧光显微装置及方法，属于激光点扫描显微领域，实现了对样品的双光子轴向超分辨成像。通过飞秒激光器发出超短脉冲激光，以实现荧光样品的双光子激发；通过空间光调制器对激发光进行相位调制，依次用轴向实心光斑和轴向空心光斑扫描样品，对得到的两幅扫描双光子图像进行权重差分最终得到轴向超分辨图像。相对于其他双光子轴向超分辨成像显微镜，该装置其结构简单，成像深度大，为生命科学和纳米技术提供了良好的研究手段。
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公开(公告)号：CN107907513B
公开(公告)日：2020-10-13
申请号：CN201711025470.3
申请日：2017-10-27
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开一种基于偏振解调的点扫描超分辨成像装置，其特征在于，包括光源、承载待测样品的样品台，所述光源与样品台之间依次设有：用于将光源发出的光束改变为线偏振光的1/4波片和1/2波片，用于将线偏振光转变为切向偏振光的偏振转换器，用于对相位进行调制最终将会聚光斑调制成多个线偏振光斑的空间光调制器，用于将激发光聚焦到样品上的显微物镜；并设有收集所述待测样品发出的信号光的探测系统，以及控制所述空间光调制器内位相调制函数的控制器。本发明还公开一种基于偏振解调的点扫描超分辨成像方法，利用多偏振角度激发光对样品的照射实现对荧光偶极子极化方向的解调，获得了更多维度的信息，与共聚焦系统的结合具有层析功能。
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公开(公告)号：CN111024659A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201911192072.X
申请日：2019-11-28
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种基于并行探测的多图像重建显微成像方法和装置，属于光学超分辨显微技术领域，包括：将其中一束激光在二维扫描振镜系统的调制下投射到待测样品上进行二维扫描；使用探测器阵列收集所述待测样品在二维扫描过程中发出的荧光信号，并对外围探测器收集的信号移回中心，将所有图像加起来后进行归一化处理获得并行探测荧光信号光强I1(x，y)，其中x、y为样品上扫描点的二维坐标；对另外一束激光进行相位调制；获得并行探测荧光信号光强I2(x，y)；将两侧扫描获得的并行探测荧光信号光强进行迭代计算得到有效信号光强I(x，y)。利用荧光激发的非线性效应来扩展成像系统的有效空间频率带宽，从而实现了更高的分辨率。
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公开(公告)号：CN110220875A
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：CN201910497500.3
申请日：2019-06-10
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开一种基于荧光差分法的晶格光切片荧光显微成像装备及方法，包括照明系统，承载样品的样品台，检测样品发出的荧光的检测系统以及处理器；照明系统包括沿光路依次布置的激光器，用于改变光束横截面的柱面镜组，用于光束相位调制的空间光调制器，用于透过环形光束的光阑，用于扫描的第一振镜，用于改变光片干涉的轴向位置的第二振镜；检测系统包括探测物镜和相机，收集荧光得到晶格光片照明的图像；处理器用于控制空间光调制器、第二振镜和探测物镜，并重构出三维的荧光样品的成像结果。本发明提高了晶格光片照明显微镜的轴向分辨率，并且可以在原有晶格光片显微镜的结构基础上直接进行数据采集，提高获得三维图像数据集的轴向分辨率。
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公开(公告)号：CN107014793A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201710266879.8
申请日：2017-04-21
Applicant: 浙江大学
CPC classification number: G01N21/6458 , G01N21/01
Abstract: 本发明公开一种基于双振镜双物镜多模式宽场超分辨显微成像系统，包括沿光路依次布置的激光器和分束镜，由分束镜分束为透射光路和反射光路，还包括：沿透射光路依次布置的第一扫描振镜系统和第一显微物镜，由第一显微物镜将光束入射至样品的下表面并激发荧光；沿反射光路依次布置的第二扫描振镜系统和第二显微物镜，由第二显微物镜将光束入射至样品的上表面并激发荧光；用于收集两路荧光信号的成像光路模块；和计算机，用于控制第一扫描振镜系统和第二扫描振镜系统对样品进行扫描，并根据收集的两路荧光信号进行数据处理和图像重构。本发明在一套系统中集成驻波干涉、结构光照明和多角度环状全内反射等多种宽场超分辨显微成像模式。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102381563A
公开(公告)日：2012-03-21
申请号：CN201110313871.5
申请日：2011-10-14
Applicant: 浙江大学
Abstract: 适合管材加工生产线的自动上料装置，包括支架，支架上设有：存储有水平放置的管材的储料箱，将储料箱中的管材出料的倾斜滑道，位于倾斜滑道的出料口处、仅允许单根管材通过的挡板机构，挡板机构与支架之间设有弹簧，承接通过了挡板机构的单根管材的上料托件，上料托件的一端与支架铰接，上料托件上设有与管材适配的容置槽，上料托件上设有夹紧管材的夹紧件，上料托件水平状态时、压缩弹簧，与上料托件连接、将上料托件及其内的管材从水平状态翻转为竖直状态的气缸。本发明具有适用于管材加工生产线上料，生产效率高的优点。
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公开(公告)号：CN111399204B
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN202010095814.3
申请日：2020-02-17
Applicant: 浙江大学
IPC: G02B21/00
Abstract: 本发明提供的一种基于后瞳面成像的环状扫描成像系统校正方法，包括以下步骤：通过环状扫描成像系统获取不同方位角和不同入射角的后瞳面图像并统计其强度，生成相应光强曲线；若光强曲线与理论变化趋势吻合，提取每个方位角下的图像强度最大值，若不吻合，调整系统参数重新获取后瞳面图像；最后比较各个方位角下的图像强度最大值对应的控制电压，计算其误差范围是否满足需求，若满足，校正结束；若不满足，调整环状扫描方式，重新获取后瞳面图像并进行分析，直到误差范围满足需求，则校正结束。本发明可实现激发光在不同方位角下以相同入射角照明样品，解决普通环状扫描成像系统中不同方位角下照明深度不一致的问题，提升了系统的成像能力。
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公开(公告)号：CN107941763B
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201711025463.3
申请日：2017-10-27
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开一种共轴三维受激辐射损耗超分辨显微成像方法，包括步骤：1)激发光和损耗光合束后，调制为线偏振光并调整线偏振方向；2)利用空间光调制器加载的0‑2π涡旋位相板和0‑π位相板同时对激发光和损耗光进行两次调制；损耗光一部分光调制成为横向的空心光斑，另一部分调制成为轴向的空心光斑；3)将激发光偏振调成圆偏光且旋向和涡旋位相板的旋向相反，损耗光偏振态转化为圆偏光且旋向与涡旋位相板的旋向相同；4)利用激发光和损耗光聚焦至样品上，激发光为实心光斑，损耗光为空心光斑，并分别激发和损耗样品发出的信号光；5)收集信号光，得到对应到样品扫描点的显微图像。本发明还公开一种共轴三维受激辐射损耗超分辨显微成像装置。
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公开(公告)号：CN108061965B
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201711237058.8
申请日：2017-11-30
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种基于变角度全内反射结构光照明的三维超分辨显微成像方法和装置，将照明光束分束为偏振方向一致且发生全反射的两路入射光，产生的倏逝波进行干涉形成全内反射结构光照明样品，收集样品发出的荧光信号得到全内反射结构光照明原始图像，重构出横向超分辨图像；利用单路入射光，在成像样品表面发生全内反射，并逐一改变入射光的入射角和方位角对样品进行扫描，收集样品发出的荧光信号得到变入射角变方位角全内反射结构光照明原始图像；对变入射角变方位角全内反射结构光照明原始图像进行预处理，重构出样品的轴向超分辨图像，并结合横向超分辨图像重构出三维超分辨图像。
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公开(公告)号：CN106950208B
公开(公告)日：2019-06-18
申请号：CN201710157142.2
申请日：2017-03-16
Applicant: 浙江大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开一种基于全内反射结构光照明的宽场超分辨显微成像方法，包括：激光光束分成两路传播方向对称且振动方向垂直的线偏振光；将两路线偏振光转换为两束切向线偏振光，投射到荧光样品上发生全反射并相互干涉产生条纹结构光照明图样；收集样品发出的荧光信号，得到荧光强度信息；依次旋转结构光照明图样的干涉条纹的方向，在各方向下多次改变干涉条纹的相位，得到各方向的对应相位下的多幅荧光强度图像；利用多幅荧光强度图像进行数据处理，重构得到超分辨图像。本发明还公开基于全内反射结构光照明的宽场超分辨显微成像装置。本发明对入射光能量利用率高，干涉条纹对比度高，可以在低入射光功率条件下实现超过衍射极限的分辨率。
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