-
公开(公告)号：CN111566437A
公开(公告)日：2020-08-21
申请号：CN201980007572.3
申请日：2019-02-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/245 , G01B11/25 , G01C3/06 , G06T7/521 , G06T7/593
Abstract: 为了提供一种提高测量分辨率且可实现高速处理的图像处理系统及方法，本发明的图像处理系统包括：摄像部，具有远离配置的第一摄像部及第二摄像部，拍摄对象物的互不相同的图像；第一计算部，通过使用第一摄像部及第二摄像部的至少任一者，并使用与立体相机方式不同的三维测量方式的距离信息或用于计算距离的信息，从而计算第一特征点的视差；以及第二计算部，使用第一摄像部及第二摄像部，通过立体相机方式，基于针对第二特征点的对应点的搜索结果来计算第二特征点的视差，根据第一特征点的视差及第二特征点的视差来确定对象物的三维形状，且第二计算部基于第一特征点的视差来设定搜索范围。
-
-
公开(公告)号：CN111566437B
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN201980007572.3
申请日：2019-02-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/245 , G01B11/25 , G01C3/06 , G06T7/521 , G06T7/593
Abstract: 为了提供一种提高测量分辨率且可实现高速处理的三维测量系统以及三维测量方法，本发明的三维测量系统包括：摄像部，具有远离配置的第一摄像部及第二摄像部，拍摄对象物的互不相同的图像；第一计算部，通过使用第一摄像部及第二摄像部的至少任一者，并使用与立体相机方式不同的三维测量方式的距离信息或用于计算距离的信息，从而计算第一特征点的视差；以及第二计算部，使用第一摄像部及第二摄像部，通过立体相机方式，基于针对第二特征点的对应点的搜索结果来计算第二特征点的视差，根据第一特征点的视差及第二特征点的视差来确定对象物的三维形状，且第二计算部基于第一特征点的视差来设定搜索范围。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111566439A
公开(公告)日：2020-08-21
申请号：CN201980007537.1
申请日：2019-01-31
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种三维测定装置等，可缩短摄像部的曝光时间，而缩短为了对测定对象物的三维形状进行测定所需要的时间。三维测定装置包括：投影部，向测定对象物投影图案光；摄像部，以规定的曝光时间来拍摄经投影图案光的测定对象物的图像；计算部，基于图像所含的多个特征点，计算表示测定对象物的三维形状的、三维点群的位置；以及决定部，以多个特征点的个数及三维点群的个数的至少一者成为基于任一者的最大值所规定的阈值以上，且曝光时间较针对最大值的曝光时间更短的方式，来决定曝光时间。
-
公开(公告)号：CN109982055B
公开(公告)日：2021-07-20
申请号：CN201811176349.5
申请日：2018-10-10
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 清水隆史
IPC: H04N9/31 , H04N13/106
Abstract: 一种图像处理系统、控制装置、图像处理方法及存储介质，适当校正投影仪的透镜失真影响，高精度生成对象物的三维点群信息。包括：光投射装置，投射能确定至少一个方向的坐标分量的图案光；摄像装置，拍摄投射了图案光的对象物并获取图案图像；控制装置，包括计算部，基于图案光与图案图像计算对象物上的至少一个点的三维坐标，计算部包括：确定图案图像上的第一点的单元；基于第一点的位置处所拍摄的图案，计算在图案光的投光面上与第一点相对应的第二点的单元；校正单元，基于投光面上的第二点、分析图案图像而计算出的投光面上的非线性线及根据第一点计算出的投光面上的极线计算第三点；基于第一点与第三点计算对象物上的点的三维坐标的单元。
-
-
公开(公告)号：CN109982055A
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201811176349.5
申请日：2018-10-10
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 清水隆史
IPC: H04N9/31 , H04N13/106
Abstract: 一种图像处理系统、控制装置、图像处理方法及存储介质，适当校正投影仪的透镜失真影响，高精度生成对象物的三维点群信息。包括：光投射装置，投射能确定至少一个方向的坐标分量的图案光；摄像装置，拍摄投射了图案光的对象物并获取图案图像；控制装置，包括计算部，基于图案光与图案图像计算对象物上的至少一个点的三维坐标，计算部包括：确定图案图像上的第一点的单元；基于第一点的位置处所拍摄的图案，计算在图案光的投光面上与第一点相对应的第二点的单元；校正单元，基于投光面上的第二点、分析图案图像而计算出的投光面上的非线性线及根据第一点计算出的投光面上的极线计算第三点；基于第一点与第三点计算对象物上的点的三维坐标的单元。
-
公开(公告)号：CN111566439B
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN201980007537.1
申请日：2019-01-31
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种三维测定装置、三维测定方法以及三维测定存储介质，可缩短摄像部的曝光时间，而缩短为了对测定对象物的三维形状进行测定所需要的时间。三维测定装置包括：投影部，向测定对象物投影图案光；摄像部，以规定的曝光时间来拍摄经投影图案光的测定对象物的图像；计算部，基于图像所含的多个特征点，计算表示测定对象物的三维形状的、三维点群的位置；以及决定部，以多个特征点的个数及三维点群的个数的至少一者成为基于任一者的最大值所规定的阈值以上，且曝光时间较针对最大值的曝光时间更短的方式，来决定曝光时间。
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
8
records
(took 0.019 seconds)
