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公开(公告)号：CN103575737A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201310303081.8
申请日：2013-07-18
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种缺陷检查方法及缺陷检查装置，其课题在于提高缺陷的检测精度。缺陷检查方法包括：照射工序，从光源向被检查物照射可见光和不可见光；数据生成工序，分别接收由被检查物反射或透过被检查物的可见光和不可见光，并根据各受光量分别生成拍摄数据；判定工序，当比较可见光和不可见光下的、在拍摄数据的变动区域的该拍摄数据的变动程度而得的结果属于预先存储的成为缺陷的范围内时，判定为缺陷。
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公开(公告)号：CN112129768B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202010371967.6
申请日：2020-05-06
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/89
Abstract: 本发明提供一种外观检查管理系统、装置、方法以及存储介质，支持用户进行在外观检查装置中用作缺陷判定指标的特征量的筛选、及每个特征量的阈值的设定。外观检查管理系统包括：外观检查部件，基于从拍摄被检查物所得的图像获取的特征量，来检查被检查物的缺陷；显示部件；存储部件，存储缺陷图像数据，缺陷图像数据至少包含从由外观检查部件判定为被检查物的缺陷的部位的图像获得的特征量的信息；特征量分布图制作部件，制作多个特征量分布图，特征量分布图是将特征量的信息映射到规定的坐标系中；以及特征量选择辅助部件，将特征量分布图制作部件所制作多个特征量分布图依据规定的规则配置而成的特征量俯瞰图，显示于显示部件。
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公开(公告)号：CN114207664A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202080056673.2
申请日：2020-09-02
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G06T7/00 , G06K9/62 , G06V10/764 , G06V10/774
Abstract: 本发明提供一种用于降低收集多种不同样本所耗费的成本的技术。本发明的一种方案的数据生成系统利用完成训练的第一生成器，生成包括与输入值相对应的类别的第一特征的第一伪样本，利用完成训练的第二生成器，生成包括与输入值相对应的类别的第二特征的第二伪样本，且合成生成的第一伪样本及第二伪样本，由此生成包括第一特征及第二特征的新样本。
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公开(公告)号：CN112213315A
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202010384580.4
申请日：2020-05-08
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种外观检查管理系统、装置、方法以及存储介质，使被检查物的外观检查中的目测检查的判断效率化，且防止以目测检查为原因的检查基准的波动。外观检查管理系统包括：拍摄部件，拍摄被检查物；检查部件，基于由拍摄部件所拍摄的图像来检查被检查物；缺陷候补提取部件，从由拍摄部件所拍摄的图像中，提取相对于规定阈值而具有规定的差的范围内的特征量的值的缺陷候补图像；显示部件；以及目测检查辅助部件，在显示部件上显示图像一览显示与缺陷判定线，图像一览显示是根据各图像所具有的特征量的值来将一个以上的缺陷候补图像排列而成，缺陷判定线表示阈值，并且根据阈值将图像一览显示中的缺陷候补图像依据是否被判定为缺陷来进行划分。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104007116B
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201410012268.7
申请日：2014-01-10
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 提供以低成本且高速进行能够判别表面缺陷和内层缺陷的缺陷检查装置及方法。缺陷陥检查装置具有：第一照射单元，其向被检查物从一侧照射第一光；第二照射单元，其向被检查物从另一侧照射第二光；拍摄单元，其配置在上述一侧，获取与第一光的反射光及第二光的透过光的强度相对应的拍摄数据；检测单元，其基于由拍摄单元获取的反射光及透过光的强度来检测被检查物的内层缺陷。检测单元将透过光强度大于反射光强度的缺陷判断为内层缺陷。透过光的检测方法能够采用倾斜入射第二光来检测间接透过光的方法和用正交偏振（cross‑nicol）方式检测正透过光的方法。拍摄单元可利用两个照相机，也可通过采用不同颜色的两个光来利用一个彩色照相机。
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公开(公告)号：CN104007116A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410012268.7
申请日：2014-01-10
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 提供以低成本且高速进行能够判别表面缺陷和内层缺陷的缺陷检查装置及方法。缺陷陥检查装置具有：第一照射单元，其向被检查物从一侧照射第一光；第二照射单元，其向被检查物从另一侧照射第二光；拍摄单元，其配置在上述一侧，获取与第一光的反射光及第二光的透过光的强度相对应的拍摄数据；检测单元，其基于由拍摄单元获取的反射光及透过光的强度来检测被检查物的内层缺陷。检测单元将透过光强度大于反射光强度的缺陷判断为内层缺陷。透过光的检测方法能够采用倾斜入射第二光来检测间接透过光的方法和用正交偏振（cross-nicol）方式检测正透过光的方法。拍摄单元可利用两个照相机，也可通过采用不同颜色的两个光来利用一个彩色照相机。
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公开(公告)号：CN112129768A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202010371967.6
申请日：2020-05-06
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/89
Abstract: 本发明提供一种外观检查管理系统、装置、方法以及存储介质，支持用户进行在外观检查装置中用作缺陷判定指标的特征量的筛选、及每个特征量的阈值的设定。外观检查管理系统包括：外观检查部件，基于从拍摄被检查物所得的图像获取的特征量，来检查被检查物的缺陷；显示部件；存储部件，存储缺陷图像数据，缺陷图像数据至少包含从由外观检查部件判定为被检查物的缺陷的部位的图像获得的特征量的信息；特征量分布图制作部件，制作多个特征量分布图，特征量分布图是将特征量的信息映射到规定的坐标系中；以及特征量选择辅助部件，将特征量分布图制作部件所制作多个特征量分布图依据规定的规则配置而成的特征量俯瞰图，显示于显示部件。
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公开(公告)号：CN107894430A
公开(公告)日：2018-04-10
申请号：CN201710822228.2
申请日：2017-09-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/892 , G01N21/894
CPC classification number: G01N21/892 , G01N21/894 , G01N2021/8925
Abstract: 本发明提供一种能够检测片状被检查物中所含异常部位和判别异常种类的技术的片材检查装置。该片材检查装置具有：光源，对被检查物的第1面照射光；摄像传感器，被配置成，能够通过从光源照射并透射过被检查物的光来拍摄所述被检查物；处理部，基于由所述摄像传感器所获得的被检查物的图像，检测所述被检查物中所含的异常部位，并且判别在检测出的异常部位所产生的异常种类；以及输出部，输出与异常部位相关的信息，所述信息至少包含表示由处理部所判别的异常种类的信息，所述光源的光量和/或所述摄像传感器的增益经调整为，在未配置被检查物的状态下从光源直接入射至摄像传感器的光的亮度达到与摄像传感器的可计测范围的上限相同或实质上相同。
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公开(公告)号：CN103575737B
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201310303081.8
申请日：2013-07-18
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种缺陷检查方法及缺陷检查装置，其课题在于提高缺陷的检测精度。缺陷检查方法包括：照射工序，从光源向被检查物照射可见光和不可见光；数据生成工序，分别接收由被检查物反射或透过被检查物的可见光和不可见光，并根据各受光量分别生成拍摄数据；判定工序，当比较可见光和不可见光下的、在拍摄数据的变动区域的该拍摄数据的变动程度而得的结果属于预先存储的成为缺陷的范围内时，判定为缺陷。
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