公开(公告)号：CN114846320A

公开(公告)日：2022-08-02

申请号：CN202080085745.6

申请日：2020-12-07

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 三笠康之 ,  松林恭平 ,  田壶宏和 ,  村上洋介 ,  神丸刚

IPC: G01N21/892

Abstract: 能够以长条光学层叠体的状态读取打印在第一长条光学膜的第一识别信息和打印在长条光学层叠体的第二识别信息双方。包括：第一工序，其检查第一长条光学膜(F1)而取得第一缺陷信息；第二工序，其在第一长条光学膜打印第一识别信息(M)；第三工序，其将第一缺陷信息与第一识别信息关联地存储；第四工序，其检查层叠有第一长条光学膜的长条光学层叠体(F2)而取得第二缺陷信息；第五工序，其在长条光学层叠体打印第二识别信息；第六工序，其将第二缺陷信息与第二识别信息关联地存储；第一识别信息以及第二识别信息中的任一方以喷墨方式打印，另一方以激光刻印打印，或者，任一方以使用透明墨的喷墨方式打印，另一方以使用有色墨的喷墨方式打印。

公开(公告)号：CN101360989B

公开(公告)日：2013-06-26

申请号：CN200780001718.0

申请日：2007-01-10

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 小林孝正 ,  尔见正树 ,  三笠康之

IPC: G01N21/896 ,  G02B5/30 ,  G01M11/00

CPC classification number: G01N21/958 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明提供无需将新的部件插入到光程中就可以进行已将构成层叠薄膜的相位差层的光学性能偏差考虑进去的缺陷检测的层叠薄膜的缺陷检测装置。是层叠有偏振片(1)和相位差层(隔离件(2))的层叠薄膜(11)的缺陷检测方法，具有：配置在层叠薄膜(11)的薄膜面的一侧的光源(12)、配置在薄膜面的另一侧的摄像部(13)、在光源(12)和摄像部(13)之间配置的检查用偏光滤光器(15)、根据拍摄的图像对存在于偏振片(1)的缺陷进行检测的缺陷检测部(14b)、和对偏光滤光器(15)的偏光轴(L2)和偏振镜(2)的偏光轴(L1)的相对角度位置进行调节的光轴调节部(16)；就偏光滤光器(15)的相对角度位置而言，是在0°＜x≤15°的范围内调节偏光滤光器的相对角度位置x，使得输入到摄像部的可见光的光量成为最小值。

公开(公告)号：CN114846321A

公开(公告)日：2022-08-02

申请号：CN202080085754.5

申请日：2020-12-07

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 三笠康之 ,  松林恭平 ,  田壶宏和 ,  村上洋介 ,  神丸刚

IPC: G01N21/892 ,  G02B5/30

Abstract: 提供一种能够适当地管理功能膜的缺陷信息的功能膜的检查方法等。本发明包括：第一工序，其检查用于贴合在长条的偏振片或包含偏振片的长条的光学层叠体而制造长条的偏光膜(F2)的长条的功能膜(F1)，取得功能膜的缺陷信息；第二工序，其在功能膜的宽度方向的端部，每隔功能膜的长度方向的规定间隔打印识别信息；第三工序，其将功能膜的缺陷信息与识别信息关联地存储。