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公开(公告)号：CN1576828A
公开(公告)日：2005-02-09
申请号：CN200410058711.0
申请日：2004-07-28
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G01N21/89
Abstract: 一种薄片状制品的缺陷的检查方法，其中具有：检测出带状的偏振片原材料N中的缺陷的工序、将被检测出的缺陷的位置信息以条形码B的形式打印在偏振片原材料N的宽度方向端部上的工序、将记录了条形码B的带状的偏振片原材料N卷绕成卷筒(10)的工序。另一种薄片状制品的缺陷的检查方法，具有从卷筒(10)上拉出带状的偏振片原材料N的工序、检测出打印在偏振片原材料的宽度方向端部的条形码B的工序、根据所检测出的位置信息在缺陷位置进行标记的工序、在进行该标记后从偏振片原材料上冲裁出各个偏振片的工序。
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公开(公告)号：CN1605859A
公开(公告)日：2005-04-13
申请号：CN200410083546.4
申请日：2004-10-09
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G01N21/896 , G01N21/89
Abstract: 一种薄片状制品的检查方法，其中包括：在带状偏振片原材料N的宽度方向端部，沿着偏振片原材料N被移动的方向，每隔规定间隔记录表示输送方向的位置的识别信息的工序；读取被记录的识别信息的工序；检测偏振片原材料N的输送方向上的移动量的工序；检查偏振片原材料N的表面缺陷的检测工序；和根据所读取的识别信息和检测的移动量，运算所检测出的表面缺陷的位置，并将该运算出的位置信息存储在存储装置中的工序。
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公开(公告)号：CN101360989B
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN200780001718.0
申请日：2007-01-10
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G01N21/896 , G02B5/30 , G01M11/00
CPC classification number: G01N21/958 , G01N21/21
Abstract: 本发明提供无需将新的部件插入到光程中就可以进行已将构成层叠薄膜的相位差层的光学性能偏差考虑进去的缺陷检测的层叠薄膜的缺陷检测装置。是层叠有偏振片(1)和相位差层(隔离件(2))的层叠薄膜(11)的缺陷检测方法，具有：配置在层叠薄膜(11)的薄膜面的一侧的光源(12)、配置在薄膜面的另一侧的摄像部(13)、在光源(12)和摄像部(13)之间配置的检查用偏光滤光器(15)、根据拍摄的图像对存在于偏振片(1)的缺陷进行检测的缺陷检测部(14b)、和对偏光滤光器(15)的偏光轴(L2)和偏振镜(2)的偏光轴(L1)的相对角度位置进行调节的光轴调节部(16)；就偏光滤光器(15)的相对角度位置而言，是在0°＜x≤15°的范围内调节偏光滤光器的相对角度位置x，使得输入到摄像部的可见光的光量成为最小值。
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公开(公告)号：CN100491983C
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200410083546.4
申请日：2004-10-09
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G01N21/896 , G01N21/89
Abstract: 一种薄片状制品的检查方法，其中包括：在带状偏振片原材料N的宽度方向端部，沿着偏振片原材料N被移动的方向，每隔规定间隔记录表示输送方向的位置的识别信息的工序；读取被记录的识别信息的工序；检测偏振片原材料N的输送方向上的移动量的工序；检查偏振片原材料N的表面缺陷的检测工序；和根据所读取的识别信息和检测的移动量，运算所检测出的表面缺陷的位置，并将该运算出的位置信息存储在存储装置中的工序。
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公开(公告)号：CN100476414C
公开(公告)日：2009-04-08
申请号：CN200410058711.0
申请日：2004-07-28
Applicant: 日东电工株式会社
IPC: G01N21/89
Abstract: 一种薄片状制品的缺陷的检查方法，其中具有：检测出带状的偏振片原材料N中的缺陷的工序、将被检测出的缺陷的位置信息以条形码B的形式打印在偏振片原材料N的宽度方向端部上的工序、将记录了条形码B的带状的偏振片原材料N卷绕成卷筒(10)的工序。另一种薄片状制品的缺陷的检查方法，具有从卷筒(10)上拉出带状的偏振片原材料N的工序、检测出打印在偏振片原材料的宽度方向端部的条形码B的工序、根据所检测出的位置信息在缺陷位置进行标记的工序、在进行该标记后从偏振片原材料上冲裁出各个偏振片的工序。
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