公开(公告)号：CN1975916A

公开(公告)日：2007-06-06

申请号：CN200610132260.X

申请日：2006-10-13

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 横畑徹 ,  岩濑健 ,  上野隆久 ,  井垣诚吾 ,  今村孝浩 ,  藤卷徹

IPC: G11B21/00 ,  G11B21/21 ,  G11B5/02 ,  G11B5/455 ,  G11B5/60

CPC classification number: G11B5/6005 ,  G11B5/6064

Abstract: 本发明提供了检测接触的设备和方法及读写头制造方法。在用于检测读写头与记录介质的接触的接触检测设备中，信号写入单元将包括至少一个预定频率分量的信号写到记录介质上；并且接触检测单元通过在改变读写头与记录介质之间的间隔的同时读取写在记录介质上的所述信号，根据所述预定频率分量的幅值来检测读写头与记录介质的接触。