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公开(公告)号：CN101960511A
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200980106858.3
申请日：2009-02-05
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G09G3/36 , G01R31/316 , G02F1/133 , G09F9/00 , G09G3/20
CPC classification number: G09G3/3688 , G09G3/2011 , G09G2310/027 , G09G2310/0291 , G09G2310/0297 , G09G2330/08 , G09G2330/12
Abstract: 本发明的驱动电路(10)具备：分别包含输出端子(OUT1～OUT18)和输出电路(11_1～11_19)的19个图像信号输出部；判定各个图像信号输出部的良好与否的判定部；根据上述判定部的判定结果切换上述输出端子和上述图像信号输出部的连接的开关(SWB1～SWB18)；在上述判定部判定出第i个(i为m以下的自然数)上述图像信号输出电路为不良的情况下，开关(SWB1～SWB18)将第j个(j为i-1以下自然数)上述图像信号输出电路连接到第j个上述输出端子上的同时，将第k+1个(k为i以上m以下的自然数)上述图像信号输出电路连接到第k个上述输出端子上。由此，本发明提供在检测出有缺陷的图像信号输出部的情况下能进行自行修复，并能进一步简化连接到图像信号输出部的接线的驱动电路。
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公开(公告)号：CN101093244B
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200710112206.3
申请日：2007-06-21
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01R31/31701 , G01R31/31727 , G09G3/006
Abstract: 本发明提供一种半导体器件。在对驱动部进行动作测试时，由测试电路生成要提供给驱动部的测试信号。在测试电路中，老化控制电路能够根据从外部提供的时钟信号TESTCK生成上述测试信号。
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公开(公告)号：CN101093244A
公开(公告)日：2007-12-26
申请号：CN200710112206.3
申请日：2007-06-21
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G01R31/31701 , G01R31/31727 , G09G3/006
Abstract: 本发明提供一种半导体器件。在对驱动部进行动作测试时，由测试电路生成要提供给驱动部的测试信号。在测试电路中，老化控制电路能够根据从外部提供的时钟信号TESTCK生成上述测试信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1267738C
公开(公告)日：2006-08-02
申请号：CN03147464.0
申请日：2003-07-11
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G09G3/006 , G09G3/3688 , G09G3/3696 , G11C29/38
Abstract: 提供一种半导体测试装置和半导体测试方法，其能使廉价配置的装置精确地对半导体集成电路进行有关接受或拒绝的确定和测试，所述半导体集成电路有大量输出端，各用于输出多级电平输出电压。半导体测试装置包括输出电压测试装置和比较电压生成数据输入装置。输出电压测试装置包括测试电压输入装置，比较电压生成装置，高电平比较器，低电平比较器，和比较结果输出装置。高电平比较器和低电平比较器构成比较装置，其用于被测试的电压与比较电压的比较。
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公开(公告)号：CN101960511B
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN200980106858.3
申请日：2009-02-05
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G09G3/36 , G01R31/316 , G02F1/133 , G09F9/00 , G09G3/20
CPC classification number: G09G3/3688 , G09G3/2011 , G09G2310/027 , G09G2310/0291 , G09G2310/0297 , G09G2330/08 , G09G2330/12
Abstract: 本发明的驱动电路(10)具备：分别包含输出端子(OUT1～OUT18)和输出电路(11_1～11_19)的19个图像信号输出部；判定各个图像信号输出部的良好与否的判定部；根据上述判定部的判定结果切换上述输出端子和上述图像信号输出部的连接的开关(SWB1～SWB18)；在上述判定部判定出第i个(i为m以下的自然数)上述图像信号输出电路为不良的情况下，开关(SWB1～SWB18)将第j个(j为i-1以下自然数)上述图像信号输出电路连接到第j个上述输出端子上的同时，将第k+1个(k为i以上m以下的自然数)上述图像信号输出电路连接到第k个上述输出端子上。由此，本发明提供在检测出有缺陷的图像信号输出部的情况下能进行自行修复，并能进一步简化连接到图像信号输出部的接线的驱动电路。
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公开(公告)号：CN1254688C
公开(公告)日：2006-05-03
申请号：CN03123078.4
申请日：2003-04-30
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G09G3/006
Abstract: 本发明提供一种参考电压发生装置和具有它的半导体集成电路、半导体集成电路的检查装置及其检查方法。本发明的半导体集成电路的检查装置包括对液晶驱动器(LSI)的输出电压电平是否良好进行判断的差动放大器阵列模块和检验器；期待值电压发生器，该期待值电压发生器对应于期待值数据，产生期待值电压，将其输出给上述差动放大器阵列模块。其数量比所发生的期待值电压的数量少的期待值数据输入到上述期待值电压发生器中，根据已输入的期待值数据，以内插方式产生期待值数据，以便形成与期待值电压的数量相同的数量。由此，可在极短的时间，以较高精度，实施被检验器件(液晶驱动器LSI)的输出电压的检验。
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公开(公告)号：CN1475811A
公开(公告)日：2004-02-18
申请号：CN03147464.0
申请日：2003-07-11
Applicant: 夏普株式会社
CPC classification number: G09G3/006 , G09G3/3688 , G09G3/3696 , G11C29/38
Abstract: 提供一种半导体测试装置和半导体测试方法，其能使廉价配置的装置精确地对半导体集成电路进行有关接受或拒绝的确定和测试，所述半导体集成电路有大量输出端，各用于输出多级电平输出电压。半导体测试装置包括输出电压测试装置和比较电压生成数据输入装置。输出电压测试装置包括测试电压输入装置，比较电压生成装置，高电平比较器，低电平比较器，和比较结果输出装置。高电平比较器和低电平比较器构成比较装置，其用于被测试的电压与比较电压的比较。
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公开(公告)号：CN1455264A
公开(公告)日：2003-11-12
申请号：CN03123078.4
申请日：2003-04-30
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01R31/00 , G01R31/316 , H03M1/66
CPC classification number: G09G3/006
Abstract: 本发明提供一种参考电压发生装置和具有它的半导体集成电路、半导体集成电路的检查装置及其检查方法。本发明的半导体集成电路的检查装置包括对液晶驱动器(LSI)的输出电压电平是否良好进行判断的差动放大器阵列模块和检验器；期待值电压发生器，该期待值电压发生器对应于期待值数据，产生期待值电压，将其输出给上述差动放大器阵列模块。其数量比所发生的期待值电压的数量少的期待值数据输入到上述期待值电压发生器中，根据已输入的期待值数据，以内插方式产生期待值数据，以便形成与期待值电压的数量相同的数量。由此，可在极短的时间，以较高精度，实施被检验器件(液晶驱动器LSI)的输出电压的检验。
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