-
公开(公告)号：CN115524311A
公开(公告)日：2022-12-27
申请号：CN202211168313.9
申请日：2022-09-23
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 本发明基于斜条纹图案的表面漫反射率和三维形貌一体成像方法属于结构光三维成像技术领域；该方法通过生成不同频率的余弦斜条纹图案，在漫反射板和样品上分别形成固定光波下余弦斜条纹图像，再进行傅里叶变换得到图像频谱，并进行滤波和傅里叶逆变换，得到直流分量和一阶频谱分量的空域表达形式，进而得到图像像素点所对应样品表面漫反射率和包裹相位，对包裹相位进行展开得到绝对相位并计算图像像素点所对应的样品表面三维坐标，最后实现样品表面的漫反射率和三维形貌一体成像；本发明同采用正条纹图案的传统傅里叶变换三维成像方法相比，提高了样品表面三维坐标的测量准确度，并实现了样品表面漫反射测量，进而实现漫反射率和三维形貌一体成像。
-
公开(公告)号：CN113091649B
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202110381204.4
申请日：2021-04-09
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 本发明格雷码与相移非等周期组合测量中周期跳变误差消除方法属于结构光三维测量技术领域；该方法包括以下步骤：根据格雷码与相移非等周期组合方法获得高频绝对模拟码；通过高频绝对模拟码和由相移法得到的低频包裹模拟码直接计算低频模拟码序号；计算低频绝对模拟码；利用高频绝对模拟码和低频绝对模拟码的差值计算校正系数；计算校正后的高频绝对模拟码；本发明方法同对格雷码容错能力最优的《一种可靠的绝对模拟码检索方法》相比，消除周期跳变误差能力相同，但是投射图案的数量更少，因此测量效率得到了提高。
-
公开(公告)号：CN113091649A
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN202110381204.4
申请日：2021-04-09
Applicant: 哈尔滨理工大学
Abstract: 本发明格雷码与相移非等周期组合测量中周期跳变误差消除方法属于结构光三维测量技术领域；该方法包括以下步骤：根据格雷码与相移非等周期组合方法获得高频绝对模拟码；通过高频绝对模拟码和由相移法得到的低频包裹模拟码直接计算低频模拟码序号；计算低频绝对模拟码；利用高频绝对模拟码和低频绝对模拟码的差值计算校正系数；计算校正后的高频绝对模拟码；本发明方法同对格雷码容错能力最优的《一种可靠的绝对模拟码检索方法》相比，消除周期跳变误差能力相同，但是投射图案的数量更少，因此测量效率得到了提高。
-
-
Search Results
3
records
(took 0.027 seconds)
