公开(公告)号：CN103364711B

公开(公告)日：2015-12-09

申请号：CN201310329417.8

申请日：2013-07-31

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  刘旺 ,  彭喜元 ,  王帅 ,  虞娇兰

IPC: G01R31/28

Abstract: 温度约束下基于软核的三维SoC测试调度方法，属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下，无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为：基于软核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核，建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量，若IP核i和IP核j并行测试，则有xij=1，否则xij=0，tj为IP核j的测试时间，|M|表示一个SoC中的IP核总数，表示并行测试的各IP核测试时间的最大值，yi表示一个二进制变量，设IP核的标号j

公开(公告)号：CN103364711A

公开(公告)日：2013-10-23

申请号：CN201310329417.8

申请日：2013-07-31

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  刘旺 ,  彭喜元 ,  王帅 ,  虞娇兰

IPC: G01R31/28

Abstract: 温度约束下基于软核的三维SoC测试调度方法，属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下，无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为：基于软核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核，建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量，若IP核i和IP核j并行测试，则有xij=1，否则xij=0，tj为IP核j的测试时间，|M|表示一个SoC中的IP核总数，表示并行测试的各IP核测试时间的最大值，yi表示一个二进制变量，设IP核的标号j

公开(公告)号：CN103389456B

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：CN201310329419.7

申请日：2013-07-31

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  刘旺 ,  彭喜元 ,  王帅 ,  虞娇兰

IPC: G01R31/3185

Abstract: 功耗约束下基于硬核的三维SoC测试调度方法，属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下，无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为：基于硬核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核，建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量，若IP核i和IP核j并行测试，则有xij=1，否则xij=0，tj为IP核j的测试时间，|M|表示一个SoC中的IP核总数，表示并行测试的各IP核测试时间的最大值，yi表示一个二进制变量，设IP核的标号j

公开(公告)号：CN103390205A

公开(公告)日：2013-11-13

申请号：CN201310329418.2

申请日：2013-07-31

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  杨智明 ,  彭喜元 ,  王帅 ,  虞娇兰

IPC: G06Q10/04

Abstract: 功耗约束下基于软核的三维SoC测试调度方法，属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下，无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为：基于软核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核，建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量，若IP核i和IP核j并行测试，则有xij=1，否则xij=0，tj为IP核j的测试时间，|M|表示一个SoC中的IP核总数，表示并行测试的各IP核测试时间的最大值，yi表示一个二进制变量，设IP核的标号j

公开(公告)号：CN103390205B

公开(公告)日：2016-03-16

申请号：CN201310329418.2

申请日：2013-07-31

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  杨智明 ,  彭喜元 ,  王帅 ,  虞娇兰

IPC: G06F11/22 ,  G01R31/3185 ,  G01R31/28

Abstract: 功耗约束下基于软核的三维SoC测试调度方法，属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下，无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为：基于软核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核，建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量，若IP核i和IP核j并行测试，则有xij=1，否则xij=0，tj为IP核j的测试时间，|M|表示一个SoC中的IP核总数，表示并行测试的各IP核测试时间的最大值，yi表示一个二进制变量，设IP核的标号j

公开(公告)号：CN103389456A

公开(公告)日：2013-11-13

申请号：CN201310329419.7

申请日：2013-07-31

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  刘旺 ,  彭喜元 ,  王帅 ,  虞娇兰

IPC: G01R31/3185

Abstract: 功耗约束下基于硬核的三维SoC测试调度方法，属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下，无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为：基于硬核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核，建立三维SoC测试调度的数学模型其中xij表示一个二进制变量，若IP核i和IP核j并行测试，则有xij=1，否则xij=0，tj为IP核j的测试时间，|M|表示一个SoC中的IP核总数，表示并行测试的各IP核测试时间的最大值，yi表示一个二进制变量，设IP核的标号j