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公开(公告)号：CN115186580A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210759867.X
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/27 , G06F17/18 , G06F119/02
Abstract: 本发明提供了一种不同类型空间辐照入射粒子的作用效应预测方法及系统，属于模拟仿真技术领域。所述预测方法包括：获取数据库中的样本数据，所述样本数据包括入射粒子的参数信息以及相应的作用效应信息；将所述样本数据划分为训练集和测试集，并分别定义所述训练集和所述测试集中的自变量和因变量；根据所述自变量和所述因变量建立回归模型，并通过所述回归模型进行所述自变量与所述因变量之间的关联分析。本发明基于回归算法，对拥有不同参数类型的入射粒子对航空航天半导体器件辐照损伤所造成的作用效应进行智能预测，为半导体器件的材料选取提供重要依据和思路，且预测效率高、成本低。
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公开(公告)号：CN112890764A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110061402.2
申请日：2021-01-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: A61B3/14 , A61B3/12 , A61B3/00 , G06T7/00 , G06T7/11 , G06T7/194 , G06T7/12 , G06T9/00 , G06N3/04 , G06N3/08 , G06F21/60 , G06F21/62 , G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种无人化低成本便携式眼底疾病检测方法，包括：利用检测镜对眼底进行成像和解析，得到清晰眼底图像，并将其传输至移动设备；当移动设备接收到清晰眼底图像，则新建一个病例，并对清晰眼底图像压缩加密上传至服务器；当服务器接收到后进行反操作解压解密，再输入至图像处理模块中进行图像分析，得到筛查报告，并将筛查报告反馈给移动设备。该方法可以完全摆脱医院及医生的环境，无需医院设备以及医生的参与，检测者独立使用，使用便捷，节约了人力成本。
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公开(公告)号：CN119625409A
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202411713794.6
申请日：2024-11-27
Applicant: 哈尔滨工业大学
Inventor： 张英涛
IPC: G06V10/764 , G06V10/82 , G06V10/44 , G06V10/54 , G06V10/80 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06T7/00
Abstract: 本发明提供了一种纸张质量检测方法及系统，涉及缺陷检测技术领域，一种纸张质量检测方法基于YOLOV8模型，所述方法包括：根据浅层网络特征提取模块对待测纸张图像进行特征提取操作，得到初始特征图；当深层网络特征提取模块对初始特征图进行下采样操作时，将初始特征图划分为多个特征区域，并通过自适应权重下采样模块为每个特征区域划分权重，进而生成加权特征图；通过可逆特征融合模块，将加权特征图反向传递至浅层网络特征提取模块，得到融合后的加权特征图；通过深层网络特征提取模块根据融合后的加权特征图确定待测纸张图像的缺陷信息。本发明可以更准确地识别和分类纸张上的缺陷，实现了更高精度、更高效率的纸张缺陷检测。
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公开(公告)号：CN112890764B
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202110061402.2
申请日：2021-01-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: A61B3/14 , A61B3/12 , A61B3/00 , G06T7/00 , G06T7/11 , G06T7/194 , G06T7/12 , G06T9/00 , G06N3/04 , G06N3/08 , G06F21/60 , G06F21/62 , G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种无人化低成本便携式眼底疾病检测方法，包括：利用检测镜对眼底进行成像和解析，得到清晰眼底图像，并将其传输至移动设备；当移动设备接收到清晰眼底图像，则新建一个病例，并对清晰眼底图像压缩加密上传至服务器；当服务器接收到后进行反操作解压解密，再输入至图像处理模块中进行图像分析，得到筛查报告，并将筛查报告反馈给移动设备。该方法可以完全摆脱医院及医生的环境，无需医院设备以及医生的参与，检测者独立使用，使用便捷，节约了人力成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115203917A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210762733.3
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06K9/62 , G06Q10/04 , G06F17/18 , G06F119/14 , G06F111/10
Abstract: 本发明提供了一种基于空间辐照的PKA信息的智能预测方法及系统。所述方法包括：从数据集中获取样本数据，并将所述样本数据划分为训练集和测试集，所述样本数据包括入射粒子的信息以及入射粒子辐照器件后产生的PKA的信息；定义所述训练集和所述测试集中分别使用的自变量和因变量；根据所述自变量和所述因变量建立线性回归模型；对所述线性回归模型进行评估；根据对所述线性回归模型的评估结果确定线性回归的预测次数。本发明通过人工智能计算和预测仿真方法，可以预测不同辐照条件下材料产生的PKA相应信息，进而分析PKA信息对半导体器件辐照损伤过程的影响，为器件辐照损伤实时性分析、材料选取提供重要依据，且预测效率高、成本低。
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公开(公告)号：CN115188423A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210759874.X
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G16C10/00 , G06F30/23 , G06F17/12 , G06F119/14
Abstract: 本发明提供了一种入射粒子辐照产生PKA过程的分子动力学仿真方法及系统，所述方法包括：建立初始模型，并设定边界条件以及各入射粒子的初始位置坐标和初始速度；采用基于嵌入原子势的势函数来描述原子间的相互作用；设置模拟的时间步长，并基于Gear预估‑校正算法，求解各个入射粒子的运动方程，得到各时刻入射粒子的位置坐标和运动参数；根据各时刻入射粒子的位置坐标和运动参数得到入射粒子的运动轨迹。本发明采用MD方法在时间和空间尺度对入射粒子与晶格原子碰撞产生PKA的过程进行模拟，为观察微观体系中不同缺陷的产生过程、捕获实验条件难以发现的微观现象提供分析基础，为核材料的选取和设计提供重要依据和思路。
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公开(公告)号：CN115146848A
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202210762708.5
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明提供了一种基于不同入射粒子与物质相互作用的智能预测方法及系统。方法包括：获取数据库中的样本数据，并将样本数据划分为训练集和测试集；分别定义训练集和测试集中的自变量和因变量，其中，自变量为入射粒子的参数信息，因变量为入射粒子辐照导致的物理损伤信息；建立回归方程，获取不同入射粒子对器件造成的物理损伤；基于知识图谱，对入射粒子对器件造成的物理损伤信息进行语义分析。本发明通过对拥有不同参数入射粒子对器件辐照损伤造成的缺陷以及由缺陷导致的材料性能退化及多种物理机制进行智能预测，并进一步将物理现象转换为语义特征，通过机器学习方法计算、学习分析，提高预测效率，为半导体器件的材料选取提供重要依据。
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公开(公告)号：CN115186463B
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202210762700.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F17/10 , G06F111/08 , G06F111/10
Abstract: 本发明提供了一种基于器件辐射缺陷演化全过程的跨尺度仿真方法和系统，所述方法包括：定义粒子参数和材料参数，并将其输入模拟系统；根据分子动力学基本原理，建立基于空间入射粒子的分子动力学模型，进行基于分子动力学的空间入射粒子的运动数值模拟，并获取不同时刻空间入射粒子的运动轨迹、速度、能量和在空间器件中的分布信息；采用统计物理学方法统计不同状态下空间入射粒子的运动规律，将空间入射粒子的微观状态和材料的宏观性质相关联，进行跨尺度计算仿真。本发明以单个入射粒子和材料参数为研究对象，对入射粒子在空间器件中产生的跨尺度缺陷演化效应进行模拟仿真，为半导体器件的材料选取提供重要依据和思路。
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公开(公告)号：CN115186463A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210762700.9
申请日：2022-06-30
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F17/10 , G06F111/08 , G06F111/10
Abstract: 本发明提供了一种基于器件辐射缺陷演化全过程的跨尺度仿真方法和系统，所述方法包括：定义粒子参数和材料参数，并将其输入模拟系统；根据分子动力学基本原理，建立基于空间入射粒子的分子动力学模型，进行基于分子动力学的空间入射粒子的运动数值模拟，并获取不同时刻空间入射粒子的运动轨迹、速度、能量和在空间器件中的分布信息；采用统计物理学方法统计不同状态下空间入射粒子的运动规律，将空间入射粒子的微观状态和材料的宏观性质相关联，进行跨尺度计算仿真。本发明以单个入射粒子和材料参数为研究对象，对入射粒子在空间器件中产生的跨尺度缺陷演化效应进行模拟仿真，为半导体器件的材料选取提供重要依据和思路。
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