一种LED阵列光谱数据批量采集系统及方法

    公开(公告)号:CN119688065A

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202411759561.X

    申请日:2024-12-03

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本申请提供一种LED阵列光谱数据批量采集系统及方法,该系统包括电流源、激光源、显微镜、AOTF高光谱成像仪、相机以及用于批量采集的处理器;所述显微镜包含若干个物镜以及机械载物台;所述处理器用于执行:调整AOTF高光谱成像仪的驱动频率,进行不同波长下的图像采集,并输出LED阵列完整光谱;所述处理器包括模型训练模块和批量采集模块,所述模型训练模块用于构建SVM模型,所述批量采集模块用于采集部分波长下的LED阵列光谱,并将该LED阵列光谱输入SVM模型得到LED阵列完整光谱。本申请批量采集LED芯片的少量波长的单色光谱数据,输入SVM模型,即可映射出高精度LED阵列全光谱数据,具有很好的实用性。

    一种二维显微时间分辨电致发光寿命成像检测系统及方法

    公开(公告)号:CN116660708A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310611664.0

    申请日:2023-05-26

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 一种二维显微时间分辨电致发光寿命成像检测系统及方法,包括信号发生器、显微镜、波长调谐器、门控像增强相机、信号延迟器、计算机;LED样品固定于显微镜的载物台上,LED样品两侧的正负电极连接信号发生器,信号发生器发出电脉冲信号激发LED样品发光,信号发生器脉冲下降沿时间显著小于LED样品的寿命;显微镜的物镜正对着LED样品,用于接收LED样品发出的光并传送至波长调谐器;波长调谐器选择并控制单波长光通过,输出光信号至门控像增强相机;通过调节门控像增强相机的参数,配合信号延迟器,捕捉瞬态成像,储存至计算机中。本发明可高效实现荧光寿命二维成像检测,用途广泛,操作方便。

    一种Mini LED背光功能测试方法及其装置

    公开(公告)号:CN116843617A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202310568090.3

    申请日:2023-05-18

    Applicant: 厦门大学

    Abstract: 本发明提出了一种Mini LED背光功能测试方法及其装置,包括:响应于获取一组具有不同发光区域的MiniLED背光板的图像;基于霍夫圆直线方法检测亮暗区域,并批量制作掩膜图像;获得U‑Net模型;使用数据集中的图像对获得U‑Net模型进行多轮迭代训练;对待处理的图像进行分割,以识别出发光区域;对待处理的图像进行膨胀卷积以及腐蚀卷积操作,找出发光与黑暗区域;通过计算黑暗像素的面积,从而识别出正常灯珠与异常灯珠的个数。本发明利用计算机视觉监督学习算法,解决了MiniLED背光灯板的快速检测问题,使用U形网络训练大量模拟亮暗的数据,训练的模型具有较好的识别正常灯珠和异常灯珠的区域的能力,模型可以替代人工肉眼检测,提高工作效率和产品质量的把控程度。

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