公开(公告)号：CN116106726B

公开(公告)日：2023-07-14

申请号：CN202310382209.8

申请日：2023-04-12

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 朱璟溪 ,  杨航 ,  蔡志匡 ,  杨丽 ,  王子轩 ,  肖建 ,  郭宇锋

IPC: G01R31/28 ,  G06F17/10

Abstract: 本发明公开了一种基于优化预处理技术的高效率集成电路测试生成方法，包括，对待测电路生成布尔公式，收集故障传播的必要信息；读取电路信息，包括直接蕴含、间接蕴含、有条件的间接蕴含、拓展的间接蕴含信息，将提取到的信息转化为新子句加入原公式中；将更新后的公式投入SAT求解器进行求解，在SAT求解结果中提取目标测试向量完成测试生成。本发明方法能够修剪测试生成求解中的解空间，同时经过学习的子句能够帮助约束SAT求解流程中的单元传播，最终实现测试生成问题加速求解的目标，并且对难以识别的故障进行测试，提高测试质量。

公开(公告)号：CN116106726A

公开(公告)日：2023-05-12

申请号：CN202310382209.8

申请日：2023-04-12

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 朱璟溪 ,  杨航 ,  蔡志匡 ,  杨丽 ,  王子轩 ,  肖建 ,  郭宇锋

IPC: G01R31/28 ,  G06F17/10

Abstract: 本发明公开了一种基于优化预处理技术的高效率集成电路测试生成方法，包括，对待测电路生成布尔公式，收集故障传播的必要信息；读取电路信息，包括直接蕴含、间接蕴含、有条件的间接蕴含、拓展的间接蕴含信息，将提取到的信息转化为新子句加入原公式中；将更新后的公式投入SAT求解器进行求解，在STA求解结果中提取目标测试向量完成测试生成。本发明方法能够修剪测试生成求解中的解空间，同时经过学习的子句能够帮助约束SAT求解流程中的单元传播，最终实现测试生成问题加速求解的目标，并且对难以识别的故障进行测试，提高测试质量。