一种制备低应力GaN薄膜的方法

    公开(公告)号:CN102856172A

    公开(公告)日:2013-01-02

    申请号:CN201210320301.3

    申请日:2012-08-31

    Applicant: 南京大学

    CPC classification number: H01L21/30617

    Abstract: 一种制备低应力GaN薄膜的方法,通过光助法腐蚀溶剂腐蚀GaN/蓝宝石复合衬底,形成纳米结构的GaN/蓝宝石复合衬底;光助法腐蚀采用紫外光辅助腐蚀,腐蚀溶剂采用强碱和氧化剂混合溶液,即NaOH或KOH摩尔浓度范围为0.5-1.5M与K2S2O8的混和物摩尔浓度范围为0.05-0.15M,在室温或50℃以下的温度,反应时间为0.5-10小时;得到纳米结构GaN/蓝宝石复合衬底。本发明用于降低氢化物气相外延(HVPE)生长半导体材料GaN薄膜材料中应力。

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