公开(公告)号：CN1108384A

公开(公告)日：1995-09-13

申请号：CN94101873.3

申请日：1994-03-10

申请人： 华中理工大学

发明人： 蒋向前 ,  谢铁邦 ,  肖少军 ,  谷庭西 ,  路晓东 ,  姚彩佩 ,  李柱

IPC分类号： G01D5/32 ,  G01B11/30 ,  G01B11/24

摘要： 本发明涉及一种传感器。它采用反射型柱面全息衍射光栅，传感器的触针位移用干涉信号的脉冲当量来瞄述，干涉信号的脉冲当量为光栅常数的一半，它不随入射光波长的变化而变化，因此具有较短的干涉光路，有宽的动态范围，解决了任意曲面表面粗糙度测量困难，并可进一步用于形状误差、浓度及粗糙度和综合测量。本发明结构简单，成本低，易于商品化。

公开(公告)号：CN1264824A

公开(公告)日：2000-08-30

申请号：CN00114436.7

申请日：2000-03-20

申请人： 华中理工大学

发明人： 卢圣凤 ,  李柱

IPC分类号： G01B11/24

摘要： 用于表面形貌测量的位移传感器,固定部分由壳体内的激光器、偏振分光镜、λ/4波片、位移装置及与其相联接的物镜、聚焦透镜、光电转换器及自动聚焦控制电路组成;可拆卸测头包括触针——反射镜测杆;测量精度高、工作稳定可靠、使用灵活,在一台仪器上同时能进行接触和非接触测量,降低仪器成本,可广泛用于研究和工业现场。

公开(公告)号：CN1064712C

公开(公告)日：2001-04-18

申请号：CN91111898.5

申请日：1991-12-23

申请人： 华中理工大学

发明人： 叶虎年 ,  杨立新 ,  李玉红 ,  杨华 ,  周方 ,  李柱

IPC分类号： C12Q1/04 ,  C12Q1/24

摘要： 本发明为一种对临床常规难检验病原菌自动检验的网络系统及方法。由用户样品处理；通讯终端，样品传输系统，分离、培养系统，分析仪器系统，计算机系统和通讯系统等构成对临床常规难检验病原菌自动检验的网络系统。采用用户、传输、检测中心，通讯、样品处理终端构成检验网络的方式，并在检验过程中使用TCD；FID和HIR联用的方式和R-编网模糊聚类法，等高技术对待检样品进行分析。本方法具有结构简单、运行可靠，成本低、出结果快、服务面宽达基层和农村小城镇等优点。

公开(公告)号：CN1073720A

公开(公告)日：1993-06-30

申请号：CN91111898.5

申请日：1991-12-23

申请人： 华中理工大学

发明人： 叶虎年 ,  杨立新 ,  李玉红 ,  杨华 ,  周方 ,  李柱

IPC分类号： C12Q1/04 ,  C12Q1/24

摘要： 本发明为一种对临床常规难检验病原菌自动检验的网络系统及方法。由用户样品处理，通讯终端，样品传输系统，分离、培养系统，分析仪器系统，计算机系统和通讯系统等构成对临床常规难检验病原菌自动检验的网络系统，采用用户、传输、检测中心、通讯、样品处理终端构成检验网络的方式，并在检验过程中使用TCD；FID和HIR联用的方式和R-编网模糊聚类法，等高技术对待检样品进行分析。本方法具有结构简单、运行可靠、成本低、出结果快、服务面宽达基层和农村小城镇等优点。

公开(公告)号：CN1069804A

公开(公告)日：1993-03-10

申请号：CN91105893.1

申请日：1991-08-20

申请人： 华中理工大学

发明人： 陈家壁 ,  张正泽 ,  王菊香 ,  仉浆铭 ,  姚彩仙 ,  李柱

IPC分类号： G01B11/30 ,  G01B21/30

摘要： 非接触式硬盘表面粗糙度测量方法特别适用于超精加工表面粗糙度非接触测量，该方法用锯齿波调制相位实现移相法干涉测量，用电荷耦合固体成象器件扫描接受干涉图象，用微型计算机计算扫描各点初相位及微观轮廓高度，从而测量被测表面12以上全部国家标准的粗糙度参数。

公开(公告)号：CN2097392U

公开(公告)日：1992-02-26

申请号：CN91223633.7

申请日：1991-08-20

申请人： 华中理工大学

发明人： 李柱 ,  李彬 ,  陈家璧 ,  刘冲

IPC分类号： G01B9/00

摘要： 该装置涉及一种高精度微位移测量装置，在长度计量领域中可以作为一种定标或检定装置。它采用CCD线阵图象传感器，并使它置于法—珀干涉仪聚焦镜的焦平面上进行位移测量，在法—珀干涉仪光路中插入二个反射镜。该装置在确保较高精度前提下具有体积小、制造工艺简化、成本低、操作简便等优点。

公开(公告)号：CN2099299U

公开(公告)日：1992-03-18

申请号：CN91224211.6

申请日：1991-08-30

申请人： 华中理工大学

发明人： 陈家璧 ,  陈涛 ,  龙政 ,  杨曙年 ,  李柱

IPC分类号： G01B11/24

摘要： 该装置涉及超精密表面轮廓非接触测量，它由平行两光束外差干涉系统构成，包括激光器(1)扩束透镜(2)、分光镜(3)、反射镜(4)及声光调制器(5)、(6)分光镜(7)、(11)、(10)、分光镜(8)、(9)等。该装置实现了将测量面同时设计成参考面的目的，使机械运动、随机偏摇误差得到消除，同时也避免了光学元件设计、加工及光路调整的困难，制造成本降低。被测对象可以是磁盘等高精密表面。

公开(公告)号：CN2110207U

公开(公告)日：1992-07-15

申请号：CN91223185.8

申请日：1991-08-13

申请人： 华中理工大学

发明人： 杨曙光 ,  徐振高 ,  陈涛 ,  陈家璧 ,  李柱

IPC分类号： G01B21/04

摘要： 这种非接触式的精密自动定位装置特别适用于调整机构或位移机构实现精密自动定位。它由非接触式光学定位传感头、传感头运动自动定位控制器和传感头运动的驱动及执行机构三部分组成，进行非接触式定位。其中，光学定位传感头由激光器、各种透镜、反射镜、分光镜，显微物镜、柱面镜和四象限光电接收器等组成。该装置可避免定位基准面的磨损或变形，定位控制用自动化程度高，定位稳定可靠，精度高，定位位置信号检测重复精度为0.03μm。