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公开(公告)号：CN104730148A
公开(公告)日：2015-06-24
申请号：CN201510145749.X
申请日：2015-03-30
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N29/09
Abstract: 本发明公开了一种基于超声检测技术的金属材料内部夹杂物三维重构方法，所述方法首先利用超声显微镜对材料进行粗扫和精扫两步检测，获取夹杂物的超声回波信号；其次对超声回波信号进行预处理，设定夹杂物回波信号的判定阈值；再提取出各夹杂物所在位置的空间坐标；然后利用曲面插值拟合的方法，将夹杂物所在位置的离散采样点拟合为曲面；最后得到夹杂物的三维形貌。本发明能够直观地显示夹杂物的空间结构和分布，并能够实现三维图形的旋转和缩放，同时，可以通过三维成像结果统计出夹杂物的尺寸和数量，对于判断夹杂物的类型具有重要意义。
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公开(公告)号：CN105675727A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610039070.7
申请日：2016-01-20
Applicant: 北京科技大学
CPC classification number: G01N29/2456 , G01N29/32
Abstract: 本发明提供一种超声聚焦探头散焦区内缺陷的灵敏度补偿方法，所述灵敏度补偿方法通过制作补偿试样，实测灵敏度补偿曲线，利用超声显微镜获取待测试样的超声回波数据，提取出缺陷的X、Y、Z空间坐标，再根据实际的检测条件选取相对应的补偿曲线，最后根据缺陷的深度H缺和焦点的位置H焦确定补偿系数并完成灵敏度补偿，本发明实现了聚焦探头散焦区内缺陷检测灵敏度的补偿；与平探头的AVG曲线比较，更适用于聚焦探头，不仅实现了对散焦区缺陷的灵敏度补偿，而且具有较高的精度和可重复性，对于缺陷的快速检测、大小的表征具有重要意义，避免了缺陷大小的误判；通过灵敏度的补偿，有利于材料内缺陷尺寸及数量统计分析，可以更准确地评价金属材料的纯净度。
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公开(公告)号：CN105675727B
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201610039070.7
申请日：2016-01-20
Applicant: 北京科技大学
Abstract: 本发明提供一种超声聚焦探头散焦区内缺陷的灵敏度补偿方法，所述灵敏度补偿方法通过制作补偿试样，实测灵敏度补偿曲线，利用超声显微镜获取待测试样的超声回波数据，提取出缺陷的X、Y、Z空间坐标，再根据实际的检测条件选取相对应的补偿曲线，最后根据缺陷的深度H缺和焦点的位置H焦确定补偿系数并完成灵敏度补偿，本发明实现了聚焦探头散焦区内缺陷检测灵敏度的补偿；与平探头的AVG曲线比较，更适用于聚焦探头，不仅实现了对散焦区缺陷的灵敏度补偿，而且具有较高的精度和可重复性，对于缺陷的快速检测、大小的表征具有重要意义，避免了缺陷大小的误判；通过灵敏度的补偿，有利于材料内缺陷尺寸及数量统计分析，可以更准确地评价金属材料的纯净度。
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公开(公告)号：CN104008287B
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201410222150.7
申请日：2014-05-23
Applicant: 北京科技大学
Abstract: 发明一种基于PSO‑MVDR的声场重构与鬼影抑制方法。该方法首先利用PSO算法实现了不等间距阵列的阵元优化布置，抑制栅瓣值的同时，并尽可能减小原旁瓣值的增加量；在优化不等间距阵列的基础上，利用MVDR算法进行声场重构，抑制旁瓣对声场重构的影响，实现鬼影的抑制，提高声源定位的准确性。该方法的优点在于：结合了不等间距阵列抑制栅瓣和MVDR算法较强的空域滤波特性的优势，能够利用阵元数量较少的传声器阵列，实现声场重构中的鬼影抑制。
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公开(公告)号：CN104730148B
公开(公告)日：2018-10-02
申请号：CN201510145749.X
申请日：2015-03-30
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N29/09
Abstract: 本发明公开了一种基于超声检测技术的金属材料内部夹杂物三维重构方法，所述方法首先利用超声显微镜对材料进行粗扫和精扫两步检测，获取夹杂物的超声回波信号；其次对超声回波信号进行预处理，设定夹杂物回波信号的判定阈值；再提取出各夹杂物所在位置的空间坐标；然后利用曲面插值拟合的方法，将夹杂物所在位置的离散采样点拟合为曲面；最后得到夹杂物的三维形貌。本发明能够直观地显示夹杂物的空间结构和分布，并能够实现三维图形的旋转和缩放，同时，可以通过三维成像结果统计出夹杂物的尺寸和数量，对于判断夹杂物的类型具有重要意义。
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