元器件微调装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118311318A

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202311855200.0

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本申请公开了一种元器件微调装置,包括:底板、支座、测试板、弹簧管以及检测探针,其中,底板,用于安装一对或多对支座,对支座进行限位固定;支座,用于安装测试板,其中,一对支座对应安装一个测试板;测试板,用于安装多个弹簧管;弹簧管,用于固定待测的元器件的引线,使元器件的引线与检测探针接触;检测探针,用于检测元器件输出信号的频率。本申请解决了现有技术中的石英晶体元器件装架振子微调装置存在生产效率低,容易对引线造成损伤及操作时容易接触不良的问题。

    一种双芯片单粒子试验用晶体振荡器

    公开(公告)号:CN118232841A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202311831235.0

    申请日:2023-12-27

    Abstract: 本发明提供一种双芯片单粒子试验用晶体振荡器,包括:第二谐振模组设置于基座上,第二芯片设置于第二谐振模组上,第一谐振模组和第二谐振模组间隔且平行设置于基座上,第一谐振模组和第二谐振模组位于同一轴线上,其中,第一谐振模组和第二谐振模组分别具有不同频率输出端用以信号测量,由于基座的独特设置能够同时放置第一谐振模组和第二谐振模组,从而能够同时对两个芯片进行单粒子试验,并根据不同频率输出端实时在线分别输出各自对应检测出的信号,判断其是否满足试验的要求,从而降低了试验成本,提高了试验效率。

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