一种微波模块智能检测平台和检测方法

    公开(公告)号:CN119595630A

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN202411745508.4

    申请日:2024-12-02

    Abstract: 本发明公开了一种微波模块智能检测平台和检测方法,所述微波模块智能检测平台包括翻转平台和检测平台,检测平台包括视觉检测设备、滑动导杆、视觉底座、支撑杆和旋转装置,视觉检测设备设置在滑动导杆上,用于拍摄微波模块的图像进行视觉检测,旋转装置设置在支撑杆上并且设置在视觉检测设备的下方,能够带动翻转平台旋转;翻转平台水平设置在支撑杆上并且设置在视觉检测设备的下方,包括气缸、弹性卡头、产品挡块、产品定位块、推动气缸接头、电机联轴器、伺服电机,伺服电机用于通过电机联轴器使旋转装置旋转,从而带动翻转平台旋转,实现微波模块的翻转和双面检测。本发明能够显著提升微波模块检测精度和效率,实现大批量生产过程的质量控制。

    一种T/R组件上下料系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117657659A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202311864307.1

    申请日:2023-12-29

    Abstract: 本发明公开了一种T/R组件上下料系统,包括主体框架、设备平台、可移动储料仓、组件传送机构和夹紧工作平台;主体框架用于整体结构的支撑;可移动储料仓设置在主体框架内部的一侧,可移动储料仓内部纵向等间距排列有多个托盘,用于装载T/R组件;设备平台设置在主体框架内部的另一侧,组件传送机构和夹紧工作平台设置在设备平台上,夹紧工作平台位于组件传送机构侧面;组件传送机构用于将T/R组件从可移动储料仓传送至夹紧工作平台,夹紧工作平台包括平台载板和顶升气缸,平台载板用于放置T/R组件,顶升气缸用于锁定放置在平台载板上的T/R组件。本发明能够实现T/R组件的自动上下料,提高T/R组件的上下料效率,降低操作人员的工作强度。

    微波组件相位误差测试方法、系统、介质和计算设备

    公开(公告)号:CN117250574A

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202311255742.4

    申请日:2023-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种微波组件相位误差测试方法、系统、介质和计算设备,所述方法包括:当波控模块接收到上位机发送的测试指令时,从所述测试指令中读取测试状态信息;通过所述波控模块控制被测微波组件基于所述测试状态信息运行;通过矢量网络分析仪对运行中的所述被测微波组件进行扫描,得到所述被测微波组件的测试结果,并向所述上位机发送OPC指令;其中,所述OPC指令用于提示已获取所述被测微波组件的测试结果;当接收到所述上位机发送的结果获取指令时,向所述上位机发送所述测试结果;通过所述上位机对所述测试结果进行分析,得到相位误差分析结果。本发明能够减少相位误差测试过程中上位机的等待时长,提升相位误差测试效率。

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