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公开(公告)号：CN116643765A
公开(公告)日：2023-08-25
申请号：CN202310355735.5
申请日：2023-04-04
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F8/65 , G06F13/42 , G06F11/14 , G06F9/4401
Abstract: 一种多芯片集成的软件升级更新设计方法，采用统一标准协议且支持多地址覆盖的总线方式，通过复用总线的方式对不同地址的芯片进行访问对芯片内部固件或者软件进行升级更新，在升级更新过程中仅需操作升级更新的芯片，对其他芯片无影响。通过该方法能够简化外围电路设计和降低板级设计成本，并且能够保证芯片之间升级不会受到影响且不会破坏其他芯片的软件。本专利仅提供一种原型设计方法，并不局限于开发者使用何种具体方式和工具实现，也不局限于芯片以何种接口运行。
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公开(公告)号：CN109558753B
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN201811295243.7
申请日：2018-11-01
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 董攀
IPC: G06F21/72
Abstract: 一种安全芯片多模块组合验证方法，采用模块随机组合的方式可以模拟用户应用场景下安全芯片的使用流程，最大限度的覆盖用户所有的应用场景，在验证过程中及早发现芯片存在的问题。本专利仅提供一种验证方法，并不局限于开发者使用何种具体方式和工具实现，也不局限于安全芯片以何种协议或者接口运行。
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公开(公告)号：CN109558753A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201811295243.7
申请日：2018-11-01
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 董攀
IPC: G06F21/72
CPC classification number: G06F21/72
Abstract: 一种安全芯片多模块组合验证方法，采用模块随机组合的方式可以模拟用户应用场景下安全芯片的使用流程，最大限度的覆盖用户所有的应用场景，在验证过程中及早发现芯片存在的问题。本专利仅提供一种验证方法，并不局限于开发者使用何种具体方式和工具实现，也不局限于安全芯片以何种协议或者接口运行。
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公开(公告)号：CN107766187A
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201710948216.4
申请日：2017-10-12
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G06F11/22
CPC classification number: G06F11/221 , G06F11/2221 , G06F11/2247 , G06F11/2273
Abstract: 本发明公开了一种支持多USB接口设备的可靠性同测装置及方法，该装置包括：多通道可编程电源控制模块、USB多通道连接模块、多通道电流监控模块、微控制器和USB接口插件。所述的支持多USB接口设备可靠性同测装置，能够在-40℃和125℃下工作，具有能够控制USB接口设备的工作电源、控制USB接口设备与PC机的切断和连接以及在USB接口设备工作过程中检测每个USB接口设备的工作电流的能力，具有对多USB接口设备实现高低温下长时通讯的可靠性同测能力。
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公开(公告)号：CN115390648A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202210973044.7
申请日：2022-08-15
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Abstract: 一种融合通讯接口的芯片复位方法，采用接口信号采样模块为独立模块设计，使用多路选择方式覆盖芯片的所有GPIO端口，通过可配置方式监听任意接口信号的时序信息并对其进行采样判断，输出有效复位信号给芯片产生系统复位。通过该方法将外部复位和通讯接口统一，且任意GPIO端口信号可配置为复位信号，有效简化外围电路设计和降低板级成本。本专利仅提供一种原型设计方法，并不局限于开发者使用何种具体方式和工具实现，也不局限于芯片以何种接口运行。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115389907A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202210992600.5
申请日：2022-08-18
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明介绍一种基于交叉点开关的多接口同测装置，涉及测试领域。本发明的多接口同测装置，包括USB HUB模块、MCU通讯模块、交叉点开关模块和双向电平转换模块。其中，USB HUB模块与MCU模块相连，实现上位机与MCU模块的通讯。MCU模块与交叉点开关模块的配合使用，使MCU的多个通讯接口有选择的输出其中一个连接到电平转换模块。本发明提出的基于交叉点开关的多接口同测装置，可在一个数据通道上分时复用实现多种接口通讯，并且数据通道中信号的顺序可以任意调整。本发明提出的同测装置可用于测试大批量芯片的多种接口通讯功能及稳定性。
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公开(公告)号：CN107610738A
公开(公告)日：2018-01-19
申请号：CN201710906554.1
申请日：2017-09-29
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G11C29/56
Abstract: 一种高效的存储器失效分析方法，可以实现对存储器单元进行可靠性失效分析图形显示的可视化分析方法，能够高效的分析存储器单元在可靠性评测时出现的物理地址、失效方式等，帮助快速定位产品的存储器失效原因；本发明仅提供一种存储器可靠性失效分析的图形化方法，并不限于开发者如何模拟和显示存储器的物理地址分配，依靠在图中显示出存储单元失效的位置以及形式，直观的显示出失效物理地址及分布。
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公开(公告)号：CN108199849B
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN201810006369.1
申请日：2018-01-04
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 董攀
Abstract: 一种数据实时采集的USBkey设备安全攻击系统及方法，可以实现在USBkey设备进行交易时产生触发信号，从而对USBkey设备进行攻击，验证其安全性。本系统包括中枢控制系统、程控电源、USB集线器、待检测USBkey设备，安全攻击平台、功耗采集平台。其中USB集线器（集线器上仅连接待检测USBkey设备）用来隔离待检测USBkey设备与其他USB设备和PC之间的连接，保证PC在通过USB接口向其他设备发送数据时，不会干扰USB数据处理模块的数据解析功能，USB集线器与主控计算机相连接，程控电源用于USBkey设备的供电，程控电源与主控计算机相连，由计算机控制待检测USBkey设备的工作电压。本发明能够精确控制USBkey设备的安全攻击时间，并支持USB各类协议。
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公开(公告)号：CN108199849A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201810006369.1
申请日：2018-01-04
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 董攀
CPC classification number: H04L9/3234 , G06F21/85 , H04L9/002 , H04L9/003 , H04L9/005 , H04L2209/26
Abstract: 一种实时采集的USBkey设备安全攻击系统，可以实现在Ukey设备进行交易时产生触发信号，从而对Ukey设备进行攻击，验证其安全性。本系统主要包括中枢控制系统、程控电源、USB集线器、待检测USB设备，安全攻击平台、功耗采集平台。其中USB集线器(集线器上仅连接待检测Ukey设备)用来隔离待检测Ukey设备与其他USB设备和PC之间的连接，保证PC在通过USB接口向其他设备发送数据时，不会干扰USB数据处理模块的数据解析功能，USB集线器与主控计算机相连接，程控电源用于UKey设备的供电，程控电源与主控计算机相连，由计算机控制待检测USB设备的工作电压。本发明能够精确控制USB设备的安全攻击时间，并支持USB各类协议。
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公开(公告)号：CN118671552A
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202410692501.4
申请日：2024-05-30
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种芯片可靠性测试装置及芯片可靠性测试方法。根据本发明实施例的芯片可靠性测试装置包括USB集线器模块；第一主控测试单元，所述第一主控测试单元的第一端与所述USB集线器模块的第一端口相连接以传递信息，所述第一主控测试单元的第二端用于第一测试芯片的连接；以及第二主控测试单元，所述第二主控测试单元的第一端与所述USB集线器模块的第二端口相连接以传递信息，所述第二主控测试单元的第二端用于第二测试芯片的连接。根据本发明实施例的芯片可靠性测试装置及芯片可靠性测试方法，可以完成多个测试芯片的同测，降低了测试成本，提升了测试效率。
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