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公开(公告)号：CN115861229A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211528460.2
申请日：2022-11-30
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06T7/00 , G06V10/762 , G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/80 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种基于YOLOv5s元器件封装缺陷X射线检测方法。构建样本数据集；采集到的X射线芯片图像通过人工标注得到每一张图片的标签数据，标签数据包括：气泡缺陷的中心点坐标值、宽高值和类别。采用K‑means++算法对芯片数据集真实标注框宽高值进行聚类，得到三个尺度的先验框初始值。搭建轻量化的YOLOv5s轻量化检测模型，为充分利用多尺度语义信息，采用轻量的BiFPN的多尺度双向特征融合思想构建特征融合网络。引入Ghost模块替换掉C3模块，对主干网络进行轻量化，在不降低精度的前提下提高检测速度。构建损失函数，利用QFocal loss代替二分类交叉熵损失函数，解决正负样本不均衡问题。
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公开(公告)号：CN114155197A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111314595.4
申请日：2021-11-08
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种元器件缺陷检测方法及装置，所述方法包括：获取目标元器件的X射线图像，并对所述X射线图像进行降噪处理，得到第一图像；消除所述第一图像的非均匀光照背景，得到第二图像；基于模板匹配定位所述第二图像中待检测的目标元器件图像；通过预设图像分割算法，将目标元器件图像从所述第二图像中分割出来；基于局部信息熵结合区域生长算法，对所述X射线图像中的多余物进行检测，以检测到所述目标元器件的缺陷。本申请实施例提供的元器件缺陷检测方法，高效且可节省大量人力资源，所得检测结果准确、可靠。
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公开(公告)号：CN108188952A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201711291926.0
申请日：2017-12-08
Applicant: 中国空间技术研究院
CPC classification number: B25B11/00 , G01N23/00 , G01N2223/1016 , G01N2223/646
Abstract: 本发明属于宇航用元器件技术领域，特别涉及一种用于X射线检测试验夹具的设计。本发明的夹具采用子母夹具的设计方式，可伸缩延展，扩展性强，适用多种封装形式；子母夹具间已卡簧固定，便于拆装；本发明的夹具采用矩阵阵列，便于器件的准确定位及快速查找计数；且操作简便，可实现待试器件的快速翻转，满足器件多方向射线检测试验需求，大幅度提高X光试验的效率；本发明的夹具能够避免常规胶贴法固定对器件造成显性损害及隐形损伤的问题。
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公开(公告)号：CN104615795B
公开(公告)日：2017-12-12
申请号：CN201310539174.0
申请日：2013-11-05
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明提供了一种图纸内容提取验证方法，包括：基于先验知识的分类提取算法，按照分别提取方法，根据几何特征存储各个图形元素、线缆、单机和标注名称，从而以位置坐标作为计算基准，使图形与其标注名称相匹配；确定线缆和单机之间的连接关系；验证关于设计图纸的相关信息的正确性。本发明提出的方法，通用化程度高，根据通信卫星有效载荷分系统电子图纸的几何特征，提出了自动化的图纸内容提取和验证方法，使用时只需确定单机和线缆的特征名称即可，不需要额外的配置，还使用了分类筛选的思想，在图形提取过程中，隔离了其它图形元素对名称匹配所造成的影响，可将图形元素内容精确提出。
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公开(公告)号：CN105928678A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610244083.8
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种CCD图像传感器振动、冲击试验夹具，包括夹具本体和盖板，夹具本体为立方体结构，在每个面上设置有放置CCD图像传感器的样品放置孔，每个面上的样品放置孔轴对称或中心对称；在样品放置孔上开有引脚固定孔，带有引脚的CCD图像传感器可插入夹具本体的引脚固定孔中。本发明将夹具本体设计为立方体结构，每个面样品放置孔厚度为0.6cm～1.3cm，六个面围成中空结构，样品放置孔轴对称或中心对称设计，以防止在振动过程中产生共振，造成样品损伤；同时在设备对样品重量有一定要求的情况下，以完成60G～80G高量级振动、3000G以上冲击试验，易于实现夹具本体的空间反转。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104618311A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201310539172.1
申请日：2013-11-05
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明提供了一种遥控数据转换方法，用于使真星综合测试系统软件能够通过通用转换接口向卫星模拟器发送遥控数据，包括：读取通用转换接口的配置文件并建立网络连接，从而接收线程对网络进行监听以接收遥控数据；当接收到遥控数据时，接收线程通知发送线程，将接收到的遥控数据转换成统一格式并将转换后的遥控数据存入数据缓存区中；接收到接收线程的通知后，发送线程从数据缓存区中读取转换后的遥控数据；根据配置文件中的配置参数判断遥控数据的类型，并按照配置参数和相应协议完成自环数据包和转发数据包；根据自环时延和转发时延，按时发送相应的数据包，并在发送出去后，将遥控数据的转发个数加一。因此，本发明具有实用性、通用性和易用性。
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公开(公告)号：CN119535031A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411593116.0
申请日：2024-11-08
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 一种直流电平输出型元器件老炼可视化自动检测系统，电源模块向各模块提供所需的工作电压；保护模块对各模块工作电压、电流情况进行监控，当各模块中的工作电压和工作电流超过限定之后，保护模块自动切断对应部分的电源，起到保护作用；机械轮选装置用于选通老炼板并输出电平电压，AD采集模块对输入电平电压进行模数转换后通过总线传输进上位机中；控制模块主要为MCU，通过接收上位机指令控制步进电机；上位机的作用是下发命令，并接收经AD采集模块转换后的数字量并运算处理分析，发出提示、报警，并将老炼板各工位输出电平电压值呈现在显示器上同时自动录入信息至在线数据库，供远程移动访问终端访问。
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公开(公告)号：CN114119505A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202111316044.1
申请日：2021-11-08
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置，所述方法包括：对采集到的X射线图像进行预处理，得到第一图像；利用训练好的目标检测模型，定位出所述第一图像中粘连区域的位置；基于无监督图像修复模型对所述第一图像中的粘连区域缺陷进行修复，得到第二图像；采用自适应阈值的分割算法对第一图像、第二图像进行缺陷检测，确定目标缺陷对应的像素。本申请实施例提供的检测芯片粘连区域缺陷的方法，所得检测结果准确、可靠。
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公开(公告)号：CN111652844A
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN202010345590.7
申请日：2020-04-27
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法，所述方法包括如下步骤：对元器件图像中的外部阴影进行滤波处理得到阴影滤波后的图像；对阴影滤波后的图像采用基于灰度投影积分的边缘检测方法得到阴影滤波后的图像中元器件的倾斜角度，对阴影滤波后的图像进行空间坐标变换得到旋转校正后的元器件图像；将旋转校正后的元器件图像通过双三次内插算法得到统一尺寸的图像；对统一尺寸的图像采用归一化互相关的匹配算法得到模板匹配的图像；采用区域生长算法的对模板匹配的图像进行图像分割得到元器件的缺陷位置。本发明解决了当前的X射线检测试验效率较低，人员劳动强度大的问题。
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公开(公告)号：CN108627760B
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN201810462117.X
申请日：2018-05-15
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种FPGA芯片自激励变频动态老炼电路，包括第一时钟自激励产生电路、第二时钟自激励产生电路、结温检测电路、时钟频率控制电路、老炼功能测试电路，第一时钟自激励产生电路，用于产生频率为fH的时钟信号Clk_H；第二时钟自激励产生电路，用于产生频率为fL的时钟信号Clk_L；结温检测电路，用于监测FPGA的结温状态，输出超温报警信号OT至时钟变频控制电路；时钟变频控制电路，根据超温报警信号OT选择频率时钟信号Clk_H或者CLK_L输出至老炼功能测试电路；老炼功能测试电路，用于验证FPGA内部逻辑资源在老炼测试环境下的功能。本发明FPGA可根据实际结温状态自动调节动态老炼时内部逻辑的工作频率，从而保护芯片不会超结温工作。
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