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公开(公告)号：CN113049144B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202110331756.4
申请日：2021-03-29
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所 , 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明提供了一种用于温度测量系统进行全系统宽低温综合校准设备的隔热腔，该方案采用制冷机制冷和加热器加热综合控温方式，隔热校准腔采用三层结构，中层外层真空隔热，内层作为校准温度源，放置传感器安装铜座，通过充氦实现温度场快速均匀。在校准过程中，温度传感器带线缆穿过密封座后，置于校准腔内的传感器安装铜座内，然后对导线实行密封，中外层抽真空隔热，内层充氦。准备就绪后，在测控机柜控制下，按照校准流程实施制冷机和加热器校准腔温度控制，达到校准目标温度值后，温度测量系统采集校准温度点的电流或电压值。按流程所有校准点完成后进行校准曲线拟合，得到温度测量系统测量范围内的校准曲线。
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公开(公告)号：CN113049145B
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202110332037.4
申请日：2021-03-29
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明提供了一种对温度测量系统进行全系统宽低温综合校准的设备，校准温度范围77K到323K，采用制冷机制冷和加热器加热综合控温方式，隔热校准腔采用三层结构，中层外层真空隔热，内层作为校准温度源，放置传感器安装铜座，通过充氦实现温度场快速均匀。在校准过程中，温度传感器带线缆穿过密封座后，置于校准腔内的传感器安装铜座内，然后对导线实行密封，中外层抽真空隔热，内层充氦。准备就绪后，在测控机柜控制下，自动按照校准流程实施制冷机和加热器校准腔温度控制，达到校准目标温度值后，温度测量系统采集校准温度点的电流或电压值。按流程所有校准点完成后进行校准曲线拟合，得到温度测量系统测量范围内的校准曲线。
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公开(公告)号：CN113049145A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202110332037.4
申请日：2021-03-29
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明提供了一种对温度测量系统进行全系统宽低温综合校准的设备，校准温度范围77K到323K，采用制冷机制冷和加热器加热综合控温方式，隔热校准腔采用三层结构，中层外层真空隔热，内层作为校准温度源，放置传感器安装铜座，通过充氦实现温度场快速均匀。在校准过程中，温度传感器带线缆穿过密封座后，置于校准腔内的传感器安装铜座内，然后对导线实行密封，中外层抽真空隔热，内层充氦。准备就绪后，在测控机柜控制下，自动按照校准流程实施制冷机和加热器校准腔温度控制，达到校准目标温度值后，温度测量系统采集校准温度点的电流或电压值。按流程所有校准点完成后进行校准曲线拟合，得到温度测量系统测量范围内的校准曲线。
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公开(公告)号：CN113049144A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202110331756.4
申请日：2021-03-29
Applicant: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明提供了一种用于温度测量系统进行全系统宽低温综合校准设备的隔热腔，该方案采用制冷机制冷和加热器加热综合控温方式，隔热校准腔采用三层结构，中层外层真空隔热，内层作为校准温度源，放置传感器安装铜座，通过充氦实现温度场快速均匀。在校准过程中，温度传感器带线缆穿过密封座后，置于校准腔内的传感器安装铜座内，然后对导线实行密封，中外层抽真空隔热，内层充氦。准备就绪后，在测控机柜控制下，按照校准流程实施制冷机和加热器校准腔温度控制，达到校准目标温度值后，温度测量系统采集校准温度点的电流或电压值。按流程所有校准点完成后进行校准曲线拟合，得到温度测量系统测量范围内的校准曲线。
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公开(公告)号：CN116819238A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310317975.6
申请日：2023-03-28
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及多芯线缆电性能测试系统及测试方法，所述多芯线缆电性能测试系统包括：矩阵开关电路，包括多个分支，各分支均包括第一总线和第二总线，所述第一总线上并联多个第一总线通道继电器，所述第二总线上并联多个第二总线通道继电器，各所述第一总线通道继电器和各所述第二总线通道继电器所在的支路均连接至待测线缆，所述第一总线通过第一总线继电器分别与各所述第一总线通道继电器所在支路连接，所述第二总线通过第二总线继电器分别与各所述第二总线通道继电器所在支路连接；MCU模块，被配置为向所述矩阵开关电路下发控制指令。本发明可根据导通或绝缘测试需求按照预定程控逻辑测试，可有效提高测试效率和测试精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103115714B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201310048775.1
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01L5/00
Abstract: 全自动磁性表座磁力检测装置，采用该检测装置能够避免磁性表座不合格时可能对检测人员产生的伤害，其特征在于，包括机箱，所述机箱内具有竖立设置的底板，所述底板的上部固定有电机，所述电机通过螺杆往下连接拉力传感器，所述拉力传感器通过活动悬挂组件连接磁性表座固定机构，所述磁性表座固定机构的下方设置有磁性表座工作磁力吸附平台，所述磁性表座工作磁力吸附平台为角铁结构的一个平面，所述角铁结构的另一面与所述底板的下部通过螺栓紧固连接。
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公开(公告)号：CN103175634A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201310048162.8
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: TDLAS温度校准系统，用于实现对TDLAS温度测量的校准，其特征在于，包括标准传感器温度测量系统和被校准的在真空环境下测量气体温度的TDLAS温度测量系统，所述TDLAS温度测量系统中的光学系统位于恒温槽中，所述光学系统的壳体与所述恒温槽周壁之间具有恒温液，所述标准传感器温度测量系统中的标准传感器位于所述恒温液内。
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公开(公告)号：CN103134773A
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN201310048774.7
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01N21/39
Abstract: TDLAS温度测量与校准用真空腔，其特征在于，包括通过透射镜片隔开的上真空室和下真空室，所述下真空室的底部设置有反射镜片，所述下真空室的侧壁分别设置有试验气体充气口和真空获得系统接口，所述试验气体充气口连接第二充气阀，所述真空获得系统接口连接第二隔断阀，所述上真空室分别内设有准直器安装架和光电探测器安装架，所述上真空室的侧壁分别设置有光纤引入口、抽真空口和氩气充气口。
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公开(公告)号：CN103090995A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201310047501.0
申请日：2013-02-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 真空环境下温度比对试验系统，所述计量系统有利于通过真空环境下的标准温度传感器对被检的真空环境下温度传感器进行计量，其特征在于，包括均温真空室，所述均温真空室分别连接缓冲真空室和稳压配气室，所述缓冲真空室通过过渡真空室连接分子泵，所述缓冲真空室、所述稳压配气室和所述分子泵各自通过预抽管路连接机械泵。
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公开(公告)号：CN115900129A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202310017762.1
申请日：2023-01-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种低温温度传感器校准的制冷装置，包括低温冷源，冷量分配器、真空绝热系统和柔性冷链，真空绝热系统设置有多层真空腔，低温冷源依次穿过多层真空腔的外层筒体、中层筒体并通过冷量分配器与内层筒体连接；柔性冷链连接冷量分配器和内层筒体的顶端；低温冷源为电制冷机。本发明，采用电制冷机作为主要的制冷源，通过合理设计冷量分配器，抑制了电制冷机冷源的温度波动，同时实现了对冷量的动态分配，与柔性冷链相结合，分配部分冷量直接传导到校准区的上部，实现了恒温器上部和底部同时降温的效果，克服了制冷机处于下部，只能通过热传导由下而上传递冷量，减小了上下的温度梯度，提高了温度均匀度。
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