一种嵌入式设备固件解压成功的判断方法

    公开(公告)号:CN105488531B

    公开(公告)日:2018-10-16

    申请号:CN201510855073.3

    申请日:2015-11-30

    Abstract: 本发明涉及一种嵌入式设备固件解压成功的判断方法,其主要步骤包括:试验样本集固件收集、固件熵谱获取、固件熵谱指纹特征提取、分类器训练及固件是否解压成功的判断。该方法采用处理图像信号的方法对固件熵谱作相应处理,提取了固件熵谱的多域综合特征;利用正向熵阈值和负向熵阈值之间的回差有效避免了熵值在多次穿越单一阈值时所产生的干扰;在训练分类器时,首先对固件熵谱特征作Z‑Score标准化处理,再采用机器学习的思想和K折交叉验证的方法对分类器进行多次交叉重复训练;对于待测试固件,通过加权统计的方法对各分类器判断结果进行累计加权统计,以次数居多者作为对固件是否解压成功的最终判定结果,保证了所得结果的准确性。

    一种多维度处理器硬件漏洞评估方法及系统

    公开(公告)号:CN118051915A

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202410142895.6

    申请日:2024-02-01

    Abstract: 本发明公开一种多维度处理器硬件漏洞评估方法及系统,该方法包括:根据漏洞的攻击途径、攻击复杂度、权限要求和用户交互需求,计算该漏洞的攻击成功概率分值;根据漏洞对芯片存储信息资源的机密性的影响程度、漏洞利用脆弱性对芯片完整性的影响程度、漏洞利用脆弱性对芯片可用性的影响程度、以及漏洞利用脆弱性对芯片权限正确性的影响程度,计算该漏洞的影响程度分值;计算该漏洞所对应的利用代码成熟度分值和补丁水平分值;基于攻击成功概率分值、影响程度分值、利用代码成熟度分值和补丁水平分值,得到该漏洞的危害等级。本发明可以更准确地对处理器的硬件漏洞进行评估。

    一种恶意样本分类方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116738329A

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202310544673.2

    申请日:2023-05-15

    Abstract: 本申请公开了一种恶意样本分类方法、装置、电子设备及存储介质,用以解决现有的恶意样本分类方法的准确度低的问题。所述恶意样本分类方法,包括:获取待处理恶意样本的通联流量信息,通联流量信息是待处理恶意样本运行过程中流经各个网络节点的数据流量信息;分别从每一待处理恶意样本的通联流量信息中提取各个会话阶段的会话通联信息,基于各个会话阶段的会话通联信息生成对应的会话通联信息序列;根据待处理恶意样本中的每两个待处理恶意样本对应的会话通联信息序列,分别确定每两个待处理恶意样本的相似度;根据每两个待处理恶意样本的相似度对待处理恶意样本进行分类,获得分类结果。

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