公开(公告)号：CN118190975A

公开(公告)日：2024-06-14

申请号：CN202410269647.8

申请日：2024-03-11

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 董业民 ,  周鹏 ,  郎莉莉 ,  陈晓杰

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/20008 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明涉及一种异质界面的TEM制样方法，通过对机械手延伸的方法解决了现有技术存在的问题，能够精准控制机械手的延伸长度，延伸长度可在几至几十微米的范围内选择，本文中机械手延伸长度通过控制挖槽宽度和U切，利用机械手在空间旋转180°将延伸长条宽度变成机械手延伸长度，实现机械手延伸长度的精准控制。用延伸后的机械手进行TEM制样避免了因为高低差造成的无法取样，或裂片以后额外增加将界面打磨平整的步骤。本发明无需破真空和打磨操作，实现了高效率的TEM样品制备。

公开(公告)号：CN118130518A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202410160578.7

申请日：2024-02-05

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 郎莉莉 ,  董业民 ,  周鹏 ,  陈晓杰

IPC: G01N23/2202 ,  G01N23/04 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明涉及一种薄膜材料的平面TEM样品制备方法，本发明利用信息标记定位方法，实现界面精准定位，进而能够在原子级分辨率下，从薄膜平面方向有效地区分出单层薄区(≤5nm)和双层薄区，从大面积观测角度获取原子排列、元素分布、晶粒粒径等信息。同时，制样机时平均节约1小时以上，制样效率提升一倍，平面样品的制样成功率提升75％。

公开(公告)号：CN117969574A

公开(公告)日：2024-05-03

申请号：CN202410160579.1

申请日：2024-02-05

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 董业民 ,  郎莉莉 ,  周鹏 ,  陈晓杰 ,  李晓东

IPC: G01N23/2202 ,  G01N23/04 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明涉及一种二维材料的平面制样方法，本发明通过对机械手/样品/铜网三者进行一定的角度变换，就可以避免现有技术中需要更换样品底座或破真空手动垂直铜网两种方法来实现薄膜材料的平面制样，同时也可以按照正常步骤实现样品截面TEM的制备。

公开(公告)号：CN109389991A

公开(公告)日：2019-02-26

申请号：CN201811243475.8

申请日：2018-10-24

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 ,  中国科学院大学

Inventor： 赵沁 ,  罗珊珊 ,  谷征峰 ,  周鹏 ,  李宝清 ,  袁晓兵 ,  刘华巍

IPC: G10L21/02 ,  G10L21/0216

Abstract: 本发明涉及一种基于麦克风阵列的信号增强方法，其包括：步骤S1，获得频域观测信号；步骤S2，将所述频域观测信号输入一固定波束形成器中进行固定波束形成，以获得含有残留噪声的语音信号；步骤S3，将所述频域观测信号输入一阻塞矩阵，并经过与该阻塞矩阵连接的自适应滤波器处理后，获得参考噪声信号；步骤S4，将所述含有残留噪声的语音信号以及参考噪声信号输入到自适应噪声消除器中进行自适应滤波，以获得频域增强语音信号；步骤S5，对所述频域增强语音信号进行时频转换，以获得时域增强语音信号。本发明采用自适应方法优化广义旁瓣消除器，对含有残留噪声的语音信号的增强效果良好，鲁棒性高。