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公开(公告)号：CN119961001A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510431301.8
申请日：2025-04-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 巢湖学院
IPC: G06F9/50
Abstract: 本申请涉及一种实时任务调度方法、装置、计算机设备和可读存储介质。该方法包括：获取当前批次的至少一个待调度实时任务的任务属性信息；根据各待调度实时任务的任务属性信息，从各待调度实时任务中选取当前待调度任务，并对当前待调度任务进行处理；在不存在待调度实时任务的情况下，将各处理完成的待调度实时任务发送至任务接收方，以供任务接收方对各处理完成的待调度实时任务进行任务调度；其中，任务接收方包括任务执行端和任务处理器级联的后一处理器中的至少一种。采用本方法能够提高多处理器下实时任务调度的可靠性。
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公开(公告)号：CN118245200A
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202410686237.3
申请日：2024-05-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种实时任务调度方法、装置、设备、存储介质和程序产品。该方法包括：响应于待调度事件对应的任务调度指示，获取待调度事件对应的至少两个实时任务；其中，任务调度指示中携带有相应待调度事件的标准处理时长；根据至少两个实时任务的任务信息，确定待调度事件的响应时长；在响应时长大于相应标准处理时长的情况下，获取各实时任务对应的子任务；根据待调度事件和各子任务的任务参考数据，确定各待调度子任务的目标调度次序，并基于目标调度次序对各待调度子任务进行调度。该实时任务调度方法应用在实时任务调度系统中，能够提高航空调度系统的任务调度效率及准确率。
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公开(公告)号：CN117892564B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410305883.0
申请日：2024-03-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G01R31/00 , G01M13/00 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 本申请涉及一种多部件及多敏感应力分开加载的并行加速试验方法和装置。所述方法包括：分别确定不同产品部件的敏感应力类型，基于各敏感应力类型分别确定不同产品部件的加速试验应力量值。确定产品整机加速系数，根据产品整机加速系数修正不同产品部件的加速试验应力量值，基于不同产品部件的敏感应力类型和修正加速试验应力量值，确定多箱联动部署方案。根据加速试验置信度和产品失效数阈值，从候选加速试验方案确定出目标加速试验方案。在多箱联动部署方案下，对不同产品部件并行执行目标加速试验方案，获得产品寿命评价结果。采用本方法能够对各产品部件分别加载不同的敏感应力和修正加速试验应力量值，并行加速试验，提升产品试验效率。
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公开(公告)号：CN116227240B
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310506551.4
申请日：2023-05-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/14 , G06F119/04
Abstract: 本申请公开了一种基于综合应力加速试验的产品寿命评价方法、装置及设备。该方法可应用于数据处理技术领域，具体可以包括：响应于目标产品的寿命评价请求，基于候选应力条件与候选特征寿命之间的对应关系，根据对目标产品的目标应力条件，确定目标产品的目标特征寿命；基于目标产品所属种类的最优寿命模型，根据目标特征寿命，确定目标产品的平均寿命。上述方案，通过获取候选应力条件与候选特征寿命之间的对应关系，改变了现有技术中的基于综合应力加速试验的产品寿命评价方法中只能进行双综合应力加速试验的产品寿命评价，扩展了对目标产品进行寿命评价的应力条件，满足了多应力综合作用下加速试验的寿命评价请求。
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公开(公告)号：CN116127785B
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310349715.7
申请日：2023-04-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种基于多元性能退化的可靠性评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。该方法包括：对于目标产品包括的多个性能中的各个性能，获取该性能可能服从的多个候选函数，并从该多个候选函数中确定满足预设优选条件的目标函数，根据该目标函数确定该性能对应的可靠度函数；确定该目标产品的多个性能之间的耦合关系信息，并获取该目标产品的多个性能的冗余情况信息；根据该耦合关系信息、该冗余情况信息以及各该性能的可靠度函数对该目标产品进行可靠性评价。采用本方法可以实现对产品的多元性能退化进行可靠性评价，该方法不仅适用范围广，且得到的评价结果精准度也较高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115841046B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202310094910.X
申请日：2023-02-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G01D21/00 , G06F119/04 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种基于维纳过程的加速退化试验数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待测产品的加速退化试验数据，根据加速退化试验数据，从预设的时间折合模型集合中筛选出目标时间折合模型，基于目标时间折合模型，构建非线性维纳退化过程，确定待测产品的产品可靠度函数，根据产品可靠度函数，测试待测产品的可靠性，得到待测产品的产品可靠性测试结果。本方案基于筛选出的目标时间折合模型，构建非线性维纳过程，考虑了性能退化的非线性；并基于非线性维纳过程，确定产品可靠度函数，利用产品可靠度函数，能够实现待测产品的可靠性的准确测试。综上所述，采用本方法能够实现准确的产品可靠性测试。
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公开(公告)号：CN116227239A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310505507.1
申请日：2023-05-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/14 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种基于灰色预测模型的加速试验数据分析方法、装置和设备。该方法包括：获取待测产品在各测试时刻下的实际测试性能值；基于灰色预测模型，根据待测产品在各测试时刻下的实际测试性能值，确定待测产品的性能退化预测函数；基于性能退化预测函数，预测待测产品在各测试时刻下的预测性能值；确定待测产品在各测试时刻下的预测偏差值；基于灰色预测模型，根据待测产品在各测试时刻下的预测偏差值，确定偏差预测函数；采用偏差预测函数，对性能退化预测函数进行修正；基于修正后的性能退化预测函数和待测产品的性能退化失效阈值，确定待测产品的性能退化失效时间。本申请能够提高加速试验数据的分析准确性。
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公开(公告)号：CN115795928A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202310094868.1
申请日：2023-02-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种基于伽马过程的加速退化试验数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待测产品的加速退化试验数据，加速退化试验数据包括多组加速退化试验应力，根据加速退化试验数据，从预设的性能退化线性模型集合中筛选出目标性能退化线性模型，基于目标性能退化线性模型，构建非线性伽马过程，确定各组加速退化试验应力下待测产品的特征寿命，基于特征寿命，构建各组加速退化试验应力下的产品可靠性加速模型，根据产品可靠性加速模型测试待测产品的可靠性，得到待测产品的产品可靠性测试结果。采用本方法能够提高产品可靠性测试结果的准确性。
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公开(公告)号：CN114355094B
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202210270597.6
申请日：2022-03-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00 , G01M7/02 , G06F30/20 , G06F111/08 , G06F119/14 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种基于多源信息的产品可靠性薄弱环节综合评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待测产品每一部件在实际使用过程中的故障数据，故障数据包括故障时刻；根据每一部件的故障数据，确定每一部件的平均故障前时间；根据每一部件的平均故障前时间，将最小平均故障前时间对应的部件作为待测产品实际使用的薄弱环节；采用可靠性仿真分析软件，获取每一部件的仿真故障率；将最大仿真故障率对应的部件作为待测产品仿真过程的薄弱环节；根据薄弱环节集合，确定待测产品的可靠性薄弱环节；薄弱环节集合包括待测产品实际使用的薄弱环节和待测产品仿真过程的薄弱环节。
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公开(公告)号：CN111798094A
公开(公告)日：2020-10-20
申请号：CN202010467853.1
申请日：2020-05-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种故障模式影响及危害性分析方法、计算机设备及存储介质。所述故障模式影响及危害性分析方法包括：获取各故障模式的各个风险因素的第一决策矩阵。获取各风险因素的风险权重向量。根据直觉二元语言效用加权集成算子与各风险因素的风险权重向量，将所述第一决策矩阵中的各故障模式的n种风险因素的直觉二元语言集成为各故障模式的综合二元语言。根据所述各故障模式的综合二元语言，获得各个故障模式的风险等级排序。本申请能够有效提高评估准确度。
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