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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112648921B
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN201910991809.8
申请日：2019-10-13
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于机械制造领域，具体涉及孔类零件检测仪与孔检测方法。主要用于检测孔轴线直线度等形位误差及其它质量指标。检测仪包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分。带孔工件相对于基准移动；探测部分与孔壁接触或与孔壁之间有气膜，可绕支点摆动。光斑随带孔工件运动而变化。运算显示部分能显示光斑位置变化或其变换后的信息。光线与孔的中心线同轴或不同轴，探测杆、探测头上可设置孔，探测头与被测工件的孔壁形成环形楔形空间。孔检测方法包括孔检测仪器，步骤如下：第一步，放置带孔工件，并发出光线；第二步，使带孔工件或探测部分沿基准部分移动；第三步，根据光斑信息求孔形状位置误差或尺寸误差或粗糙度。
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公开(公告)号：CN112648921A
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201910991809.8
申请日：2019-10-13
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于机械制造领域，具体涉及孔类零件检测仪与孔检测方法。主要用于检测孔轴线直线度等形位误差及其它质量指标。检测仪包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分。带孔工件相对于基准移动；探测部分与孔壁接触或与孔壁之间有气膜，可绕支点摆动。光斑随带孔工件运动而变化。运算显示部分能显示光斑位置变化或其变换后的信息。光线与孔的中心线同轴或不同轴，探测杆、探测头上可设置孔，探测头与被测工件的孔壁形成环形楔形空间。孔检测方法包括孔检测仪器，步骤如下：第一步，放置带孔工件，并发出光线；第二步，使带孔工件或探测部分沿基准部分移动；第三步，根据光斑信息求孔形状位置误差或尺寸误差或粗糙度。
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公开(公告)号：CN112642881A
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201910986587.0
申请日：2019-10-13
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明属于机械加工领域，具体涉及孔矫正装备与矫正方法。矫正装备包括检测设备、矫直设备。检测设备有基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分。带孔工件相对于基准部分移动，通过探测部分绕支点的运动、由光斑及其变化信息获得孔的直线度。在矫直设备上分布有多个专用加力器，力的大小与各部位的误差有关。矫直方法的步骤为：第一，带孔工件运动，探测部分绕支点转动；显示光斑位置与孔的直线度；第二，加力器加力矫直，力的大小与误差有关。第三，多次检测与加力。所采用的方式有冷矫直或热矫直。本发明采用了光学放大原理，降低了探测部分绕自身轴线旋转带来的误差，检测与矫直精度高，摩擦小，可用于大、小直径孔。
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公开(公告)号：CN211161280U
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN201921741650.6
申请日：2019-10-13
Applicant: 中北大学
Abstract: 本实用新型属于机械加工领域，具体涉及矫孔装备，包括检测设备、矫直设备。检测设备有基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分。带孔工件相对于基准部分移动，通过探测部分绕支点的运动、由光斑及其变化信息获得孔的直线度。在矫直设备上分布有多个专用加力器，力的大小与各部位的误差有关。有对工件加热的装置或没有加热装置。检测过程中光斑稳定，具有放大误差的作用，分辨率高。探测头的位移可以等于光发射装置的位移，不受探测杆的变形的影响。可以防止探测头绕自身轴线旋转，或减小旋转的不良影响。可测量小直径孔。采用顺锥，利于减少探测头的偏心。检测受外界光的干扰少。气压油雾润滑，摩擦磨损小。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN210464374U
公开(公告)日：2020-05-05
申请号：CN201921752018.1
申请日：2019-10-13
Applicant: 中北大学
Abstract: 本实用新型属于机械制造领域，具体涉及孔检测仪器。主要用于检测孔轴线直线度等形位误差及其它质量指标。检测仪包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分。带孔工件相对于基准移动；探测部分与孔壁接触或与孔壁之间有气膜，可绕支点摆动。光斑随带孔工件运动而变化。运算显示部分能显示光斑位置变化或其变换后的信息。光线与孔的中心线同轴或不同轴。探测杆、探测头上可设置孔，探测头与被测工件的孔壁能形成环形楔形空间，自动定位于被测孔的中心。光斑稳定，分辨率高，受探测杆变形或绕自身轴线旋转影响小。可测量小直径孔。受外界光的干扰少。油雾或气体能使探测头与孔壁的摩擦磨损减少。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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