X射线检查装置及X射线检查方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119234143A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202380040840.8

    申请日:2023-06-09

    Abstract: 本发明的X射线检查装置包括:X射线放射装置,用于朝向测定对象放射X射线;闪烁体,用于将从所述X射线放射装置放射并经由所述测定对象而入射的X射线转换为可见光;以及拍摄装置,具有对所述闪烁体所照射的可见光进行聚光的光学部件,所述拍摄装置用于接收所述可见光。设从所述X射线放射装置的放射位置到所述测定对象的设置位置或搬送位置的距离为L1[mm],从所述放射位置到所述闪烁体的距离为L2[mm],以及所述X射线放射装置的焦点直径为R[μm],所述X射线放射装置与所述闪烁体被设置为,下述式(1)成为30μm以下。式(1):(L2‑L1)×R/L1

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