公开(公告)号：CN115902312A

公开(公告)日：2023-04-04

申请号：CN202211368548.2

申请日：2022-11-03

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 宋翔 ,  季思蔚 ,  宋正东 ,  赵颖 ,  许丽

IPC: G01R1/04

Abstract: 本发明提供一种双端口微波元器件通用测试夹具，包括微带电路、电路载体、SMA连接器、X轴向活动滑台、Y轴向活动滑台、Z轴向活动滑台、被测件载台和底座；X轴向活动滑台、Y轴向活动滑台、Z轴向活动滑台均连接在所述底座上，通能够分别沿X轴、Y轴、Z轴滑动；所述电路载体安装在所述X轴向活动滑台、Y轴向活动滑台、Z轴向活动滑台上。本发明能够通过调节活动滑台实现测试微带电路在X、Y、Z轴向进行滑动，从而满足不同封装尺寸的双端口微波元器件测试，具有良好的通用性。测试时，通过压紧下压装置，可实现被测件与测试电路的紧密电连接，保证测试结果的精确性和稳定性，能满足频率在DC～12GHz内双端口微波元器件的精确测试。

公开(公告)号：CN114136975A

公开(公告)日：2022-03-04

申请号：CN202111298816.3

申请日：2021-11-04

Applicant: 上海精密计量测试研究所

Inventor： 季思蔚 ,  圣冬冬 ,  江芸 ,  王海涛 ,  杜林 ,  王昆黍 ,  刘港港

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/95 ,  G01N21/956 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明提供了一种微波裸芯片表面缺陷智能检测系统，包括相机、光源、工控机、运动平台和平台驱动器；裸芯片固定于运动平台的平面中，通过平台驱动器驱动运动平台的移动，使相机采集到芯片表面图像；相机与工控机连接，将采集到的芯片表面图像送到工控机进行处理；工控机与平台驱动器连接，对相机和平台驱动器进行参数设置。本发明有效避免了漏检情况的发生，大幅提升了缺陷识别检测效率，降低了人工劳动强度。

公开(公告)号：CN206348398U

公开(公告)日：2017-07-21

申请号：CN201621252024.7

申请日：2016-11-16

Applicant: 上海精密计量测试研究所 ,  上海航天探维传媒科技有限公司

Inventor： 邵麟 ,  徐导进 ,  吴晔 ,  戴利剑 ,  付裕 ,  陈雪麟 ,  季思蔚

IPC: G01R31/00 ,  G01R1/04 ,  B07C5/344

Abstract: 本实用新型一种用于铝电解电容器电老炼试验的装置，包括隔板、隔板孔、引线孔、引线柱、调解槽；所述隔板用于隔离电容器的正负引脚所述隔板孔用于固定和调解隔板；所述引线孔用于固定引线柱和引线；所述引线柱可以固定软引线；所述调解槽根据器件引脚的长短，调解隔板的前后位置，确保隔板始终处于器件引脚的中部位置。该装置可适用于不同封装形式器件的电老炼试验，该底座装置部分可用于固定连接电容器正负端的引线，又不容易造成短路的装置，同时可固定铝电解电容本身，从而满足铝电解电容器电老炼试验的高可靠性。