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公开(公告)号:CN1741256A
公开(公告)日:2006-03-01
申请号:CN200410103351.1
申请日:2004-12-31
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: H01L21/336 , H01L21/20 , H01L21/00 , H01L29/786
CPC classification number: H01L21/02672 , H01L21/02532 , H01L21/02595 , H01L21/2022 , H01L27/1277 , H01L29/04 , H01L29/66757 , H01L29/78675
Abstract: 本发明提供了一种制造薄膜晶体管的方法,其步骤包括:制备绝缘基片;在该基片上形成非晶硅层;在该非晶硅层上形成具有1.78至1.90的折射率的盖层;在该盖层上形成金属催化剂层;通过对该基片的热处理而使非晶硅层晶化成多晶硅层。由于通过控制氮化物膜盖层的折射率到1.78至1.90从而获得大晶粒尺寸的半导体层来使电子迁移率增加并且残余金属催化剂的数量减少,从而降低漏电流,所以这种晶体管具有优良的特性,并能够通过利用盖层的折射率控制多晶硅层的晶粒尺寸来获得具有所希望的晶粒尺寸和均匀性的多晶硅层从而控制其特性。
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公开(公告)号:CN1702532A
公开(公告)日:2005-11-30
申请号:CN200510073821.9
申请日:2005-05-24
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: G02F1/136 , G09F9/00 , H01L29/786 , H01L21/027
CPC classification number: H01L29/78603 , H01L27/12 , H01L27/1248 , H01L27/3262 , H01L51/5284
Abstract: 本发明涉及一种具有双缓冲结构的TFT、一种制造该TFT的方法、一种具有该TFT的平板显示器和制造该显示器的方法。TFT包括:第一缓冲层,包含设置于衬底上的非晶硅;和第二缓冲层,设置于第一缓冲层上。TFT还包括:半导体层,设置于第二缓冲层上;和栅电极,设置于半导体层上。双缓冲结构对从衬底扩散的杂质提供更好的阻挡,且还作为黑底以减少不需要的反射,且是氢源以钝化其它层。
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