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公开(公告)号:CN101276819A
公开(公告)日:2008-10-01
申请号:CN200810087429.3
申请日:2008-03-27
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L27/115 , H01L29/792 , H01L29/06 , H01L29/423 , H01L21/8247 , H01L21/336 , H01L21/28
CPC classification number: H01L27/115 , B82Y10/00 , H01L21/28273 , H01L21/28282 , H01L27/0688 , H01L27/11517 , H01L27/11551 , H01L27/11556 , H01L27/11568 , H01L27/11578 , H01L27/11582
Abstract: 提供了一种非易失性存储器件,其可以实现高集成度并且具有高可靠性。多个第一半导体层被堆叠在衬底上。多个第二半导体层分别被插入到多个第一半导体层之间,并且从多个第一半导体层的每一个的一端凹陷,以便在多个第一半导体层之间限定多个第一沟槽。在多个第一沟槽内部的第二半导体层表面上提供多个第一存储节点。该器件还包括多个第一控制栅电极,其形成于多个第一存储节点上,用于填充多个第一沟槽。