制造半导体封装的方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116264166A

    公开(公告)日:2023-06-16

    申请号:CN202211140501.0

    申请日:2022-09-19

    Abstract: 公开了一种制造半导体封装的方法,包括:估计焊球附接工艺中的误差、基于估计的误差来确定球工具的规格和焊球附接工艺的方法、基于焊球附接工艺的方法,根据确定的球工具的规格来制造球工具、以及基于焊球附接工艺的方法来执行焊球附接工艺。确定球工具的规格和焊球附接工艺的方法包括:确定球工具中的多个保持器的数量以及多个保持器中的每一个的位置和宽度、确定基板的多个工作区的数量以及多个工作区中的每一个的位置和宽度、以及将基板划分为多个工作区。

    半导体封装
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109216294A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201810376927.3

    申请日:2018-04-24

    Inventor: 李尚远

    Abstract: 提供了一种具有高电学可靠性的半导体封装。半导体封装包括:下部子半导体封装,包括下部半导体芯片和在下部半导体芯片上并且具有模通孔的下部模层;上部子半导体封装,包括上部半导体芯片;下部子半导体封装和上部子半导体封装之间的填充层;模通孔中的连接过孔,所述连接过孔穿过下部模层和填充层,并且将下部子半导体封装与上部子半导体封装电连接。填充层包括填充层的延伸部,延伸部从填充层的比下部模层的顶表面高的部分延伸到模通孔中。

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