半导体测试设备及其供电方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119448172A

    公开(公告)日:2025-02-14

    申请号:CN202410455035.8

    申请日:2024-04-16

    Inventor: 张熊镇 田赫洙

    Abstract: 提供了一种用于同时测试最大数量的半导体芯片的半导体测试设备和该半导体测试设备的供电方法。该半导体测试设备包括:测试仪,其包括被配置为在测试期间向多个待测器件(DUT)同时供电的电源;以及测试板,其布置在测试仪和多个DUT之间,并且将电力从电源传输到测试仪,其中,电源包括多个电力通道,并且多个DUT中的每一个从电力通道接收两种或更多种类型的电力,每种类型的电力是针对DUT以相应的电源电压供应的电力,电源在多个电力通道之间共享电流并且将共享的电流量供应给多个DUT中的每一个。

    测试装置、测试系统及测试系统的操作方法

    公开(公告)号:CN114595101A

    公开(公告)日:2022-06-07

    申请号:CN202111433362.6

    申请日:2021-11-29

    Abstract: 提供了一种测试装置、测试系统及测试系统的操作方法。所述测试装置被配置为对执行脉冲幅度调制(PAM)操作的接口通信的被测装置(DUT)进行测试,所述测试装置包括:逻辑生成/确定装置,被配置为生成对应于测试模式的多个位;第一驱动器和第二驱动器,被配置为分别根据所述多个位当中的第一位和第二位的逻辑状态生成第一不归零(NRZ)信号和第二NRZ信号,并分别经由第一通道和第二通道输出所生成的第一NRZ信号和第二NRZ信号。所述第一NRZ信号根据所述第一位的所述逻辑状态具有第一高电平或第一低电平,并且所述第二NRZ信号根据所述第二位的所述逻辑状态具有第二高电平或第二低电平。所述第一高电平和所述第二高电平彼此不同。

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