-
公开(公告)号:CN106370991B
公开(公告)日:2020-06-30
申请号:CN201610590051.3
申请日:2016-07-25
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了测试接口板、测试系统、测试方法以及装置。测试接口板包括编码器、信号复制器和解码器。编码器数字地编码测试数据以产生调制信号。信号复制器通过感应地耦合调制信号来复制调制信号并输出与调制信号对应的至少一个复制信号。解码器将调制信号和至少一个复制信号进行解码,以测试至少两个半导体器件。
-
公开(公告)号:CN101281713A
公开(公告)日:2008-10-08
申请号:CN200810074111.1
申请日:2008-02-14
Applicant: 三星电子株式会社 , 浦项工科大学校产学协力团
CPC classification number: G09G5/026 , G06T5/009 , G09G3/3648 , G09G2320/02 , G09G2340/06 , G09G2360/16
Abstract: 提供一种显示装置的驱动设备、包括该驱动设备的显示装置以及驱动该显示装置的方法。显示装置的驱动设备利用当前帧中的帧数据的最小灰度、最大灰度、灰度平均值以及先前帧中的帧数据的灰度平均值来计算斜率,根据该斜率利用一帧的帧数据来校正输入帧数据并将其输出。结果,输入图像信号的灰度范围可被扩展,从而提高可视性。此外,在运动画面的情况下,即使相邻帧的图像的灰度范围差异较大,由于灰度范围的扩展,原始图像也不会失真。此外,即使输入图像信号中包含噪声,也可在去除噪声之后扩展灰度范围。
-
公开(公告)号:CN119448172A
公开(公告)日:2025-02-14
申请号:CN202410455035.8
申请日:2024-04-16
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种用于同时测试最大数量的半导体芯片的半导体测试设备和该半导体测试设备的供电方法。该半导体测试设备包括:测试仪,其包括被配置为在测试期间向多个待测器件(DUT)同时供电的电源;以及测试板,其布置在测试仪和多个DUT之间,并且将电力从电源传输到测试仪,其中,电源包括多个电力通道,并且多个DUT中的每一个从电力通道接收两种或更多种类型的电力,每种类型的电力是针对DUT以相应的电源电压供应的电力,电源在多个电力通道之间共享电流并且将共享的电流量供应给多个DUT中的每一个。
-
公开(公告)号:CN114595101A
公开(公告)日:2022-06-07
申请号:CN202111433362.6
申请日:2021-11-29
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F11/22
Abstract: 提供了一种测试装置、测试系统及测试系统的操作方法。所述测试装置被配置为对执行脉冲幅度调制(PAM)操作的接口通信的被测装置(DUT)进行测试,所述测试装置包括:逻辑生成/确定装置,被配置为生成对应于测试模式的多个位;第一驱动器和第二驱动器,被配置为分别根据所述多个位当中的第一位和第二位的逻辑状态生成第一不归零(NRZ)信号和第二NRZ信号,并分别经由第一通道和第二通道输出所生成的第一NRZ信号和第二NRZ信号。所述第一NRZ信号根据所述第一位的所述逻辑状态具有第一高电平或第一低电平,并且所述第二NRZ信号根据所述第二位的所述逻辑状态具有第二高电平或第二低电平。所述第一高电平和所述第二高电平彼此不同。
-
公开(公告)号:CN101281713B
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN200810074111.1
申请日:2008-02-14
Applicant: 三星电子株式会社 , 浦项工科大学校产学协力团
CPC classification number: G09G5/026 , G06T5/009 , G09G3/3648 , G09G2320/02 , G09G2340/06 , G09G2360/16
Abstract: 提供一种显示装置的驱动设备、包括该驱动设备的显示装置以及驱动该显示装置的方法。显示装置的驱动设备利用当前帧中的帧数据的最小灰度、最大灰度、灰度平均值以及先前帧中的帧数据的灰度平均值来计算斜率,根据该斜率利用一帧的帧数据来校正输入帧数据并将其输出。结果,输入图像信号的灰度范围可被扩展,从而提高可视性。此外,在运动画面的情况下,即使相邻帧的图像的灰度范围差异较大,由于灰度范围的扩展,原始图像也不会失真。此外,即使输入图像信号中包含噪声,也可在去除噪声之后扩展灰度范围。
-
公开(公告)号:CN106370991A
公开(公告)日:2017-02-01
申请号:CN201610590051.3
申请日:2016-07-25
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了测试接口板、测试系统、测试方法以及装置。测试接口板包括编码器、信号复制器和解码器。编码器数字地编码测试数据以产生调制信号。信号复制器通过感应地耦合调制信号来复制调制信号并输出与调制信号对应的至少一个复制信号。解码器将调制信号和至少一个复制信号进行解码,以测试至少两个半导体器件。
-
-
-
-
-