公开(公告)号：CN111180002A

公开(公告)日：2020-05-19

申请号：CN201911069455.8

申请日：2019-11-05

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金容正 ,  张成权

IPC: G11C29/56

Abstract: 一种输出用于测试半导体器件的时钟信号的时钟转换器包括：时钟输入端，用于接收具有输入频率的输入时钟；第一频率转换电路，用于接收输入时钟并通过使用固定乘数增大输入频率来输出具有第一频率的第一转换时钟；第二频率转换电路，用于接收输入时钟并通过使用可变乘数增大输入频率来输出具有大于第一频率的第二频率的第二转换时钟；以及选择电路，用于根据模式选择信号输出第一转换时钟或第二转换时钟。

公开(公告)号：CN111180002B

公开(公告)日：2024-11-01

申请号：CN201911069455.8

申请日：2019-11-05

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金容正 ,  张成权

IPC: G11C29/56

Abstract: 一种输出用于测试半导体器件的时钟信号的时钟转换器包括：时钟输入端，用于接收具有输入频率的输入时钟；第一频率转换电路，用于接收输入时钟并通过使用固定乘数增大输入频率来输出具有第一频率的第一转换时钟；第二频率转换电路，用于接收输入时钟并通过使用可变乘数增大输入频率来输出具有大于第一频率的第二频率的第二转换时钟；以及选择电路，用于根据模式选择信号输出第一转换时钟或第二转换时钟。

公开(公告)号：CN114595101A

公开(公告)日：2022-06-07

申请号：CN202111433362.6

申请日：2021-11-29

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 张熊镇 ,  张成权 ,  金容正 ,  朴洙龙

IPC: G06F11/22

Abstract: 提供了一种测试装置、测试系统及测试系统的操作方法。所述测试装置被配置为对执行脉冲幅度调制(PAM)操作的接口通信的被测装置(DUT)进行测试，所述测试装置包括：逻辑生成/确定装置，被配置为生成对应于测试模式的多个位；第一驱动器和第二驱动器，被配置为分别根据所述多个位当中的第一位和第二位的逻辑状态生成第一不归零(NRZ)信号和第二NRZ信号，并分别经由第一通道和第二通道输出所生成的第一NRZ信号和第二NRZ信号。所述第一NRZ信号根据所述第一位的所述逻辑状态具有第一高电平或第一低电平，并且所述第二NRZ信号根据所述第二位的所述逻辑状态具有第二高电平或第二低电平。所述第一高电平和所述第二高电平彼此不同。