发明公开
CN1628381A 用于检查对带电粒子有反应的抗蚀剂的系统和方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 用于检查对带电粒子有反应的抗蚀剂的系统和方法
- 专利标题(英): System and method for inspecting charged particle responsive resist
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申请号: CN03803198.1申请日: 2003-01-27
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公开(公告)号: CN1628381A公开(公告)日: 2005-06-15
- 发明人: 班祖恩·森德尔 , 奥菲尔·卓尔 , 盖伊·艾坦
- 申请人: 应用材料以色列有限公司 , 应用材料有限公司
- 申请人地址: 以色列雷霍沃特
- 专利权人: 应用材料以色列有限公司,应用材料有限公司
- 当前专利权人: 应用材料以色列有限公司,应用材料有限公司
- 当前专利权人地址: 以色列雷霍沃特
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 蒋世迅
- 优先权: 60/354,260 2002.02.04 US
- 国际申请: PCT/US2003/002415 2003.01.27
- 国际公布: WO2003/067652 EN 2003.08.14
- 进入国家日期: 2004-08-03
- 主分类号: H01L21/66
- IPC分类号: H01L21/66 ; H01J37/28 ; G01B15/04 ; G01R31/305 ; G01R31/265 ; G01N23/22
摘要:
一种用于扫描图形的设备和方法。本方法包括:(i)引导该带电粒子束,使之沿第一扫描路径与图形相互作用,和(ii)引导该带电粒子束,使之沿第二扫描路径与图形相互作用。图形作为与带电粒子束相互作用的结果,改变它的一种特性。第一与第二扫描路径之间的距离,可以大于带电电子束的直径。第一与第二扫描路径中的每一路径,可以包括许多相继的抽样,且第一与第二扫描路径之间的距离,可以大于相邻抽样之间的距离。扫描路径的位置,可以在测量中改变,并特别是在各测量期间之间改变。带电粒子束可以有椭圆形横截面。
公开/授权文献
- CN1628381B 用于检查对带电粒子有反应的抗蚀剂的系统和方法 公开/授权日:2010-06-09
IPC分类: