聚合物和使用该聚合物形成显微图形的方法
Abstract:
本发明涉及下式1所示的聚合物和采用该聚合物形成显微图形的方法,其中,R为C1-C10伯醇或仲醇基;m和n相互独立地代表1-3的数;以及a∶b∶c之比为(10-80)摩尔%∶(10-80)摩尔%∶(10-80)摩尔%。本发明的光致抗蚀剂聚合物适于利用ArF、E-射线、EUV或离子射线等光源来形成4G或16G半导体器件所用的超显微图形。
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