发明公开
- 专利标题: 单粒子瞬态脉冲拟合方法、装置、设备及介质
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申请号: CN202410493593.3申请日: 2024-04-23
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公开(公告)号: CN118332994A公开(公告)日: 2024-07-12
- 发明人: 彭超 , 雷志锋 , 赵战刚 , 何玉娟 , 马腾 , 陈义强
- 申请人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 申请人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- 当前专利权人地址: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- 代理机构: 广州市华创源专利事务所有限公司
- 代理商 陈婉滢
- 主分类号: G06F30/367
- IPC分类号: G06F30/367
摘要:
本公开提供了一种单粒子瞬态脉冲拟合方法、装置、设备及介质,涉及电路仿真技术领域,包括获取带电辐射粒子入射至纳米器件的第一时间参数和第二时间参数;根据第一时间参数,得到用于拟合单粒子瞬态脉冲的峰值电流的第一双指数模型;根据第二时间参数,得到用于拟合单粒子瞬态脉冲的长尾电流的第二双指数模型;根据第一双指数模型和第二双指数模型,得到单粒子瞬态脉冲的拟合模型。本公开将带电辐射粒子入射至纳米器件的过程分为两部分,通过构建两个双指数模型,实现对单粒子瞬态脉冲的精确模拟,提高了纳米级器件的拟合效果。