本发明公开了一种ADC芯片故障检测方法,包括：结合预处理和信号分割提取ADC芯片的原始输出信号的特征参数，特征参数包括：采样率，信噪比，对所述特征参数进行数据分析和处理，得出故障特征参数；依据所述故障特征参数建立故障特征参数与ADC芯片故障类型之间的关联模型；根据所述关联模型输出的判断值与设定阈值对比判断芯片是否存在故障，依据所述关联模型预测的结果和芯片的结构、特性确定芯片故障类型和位置，本发明的检测速度快、准确性高、成本低等优势，具有较大的应用价值和商业前景。